參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

　　中析研究所可基于相應(yīng)的表面氧化層厚度測試標準,，采用各種分析測試方法進行檢測服務(wù),。同時，我們還能根據(jù)客戶的需求,，設(shè)計個性化的檢測方案,，為客戶提供非標準檢測服務(wù)。

表面氧化層厚度測試項目

　　中析服務(wù)項目一般包括：表面形貌特征,、膜厚均勻性,、晶粒尺寸、晶界清晰度,、氧化物種類,、氧化層結(jié)構(gòu)、晶格畸變程度,、晶體取向,、表面粗糙度、殘余應(yīng)力分布,、氧化膜顏色,、氧化層致密性、氧化層成分分布,、氧化層硬度,、氧化層電學性能等。

表面氧化層厚度測試范圍

　　金屬類：鋁,、鋼鐵,、鎂、銅,、鋅,、鎳、鈦,、鉻,、鎢、錫等,。

　　合金類：不銹鋼,、鋁合金、鎳基合金,、鈷基合金,、鈦合金、銅合金,、鎳鉻合金,、鐵鉻鋁合金、鎳鈷合金,、鋁硅合金等,。

　　陶瓷類：氧化鋁陶瓷,、氧化鋯陶瓷、氧化硅陶瓷,、氧化鐵陶瓷,、氧化鎂陶瓷、氧化鈦陶瓷,、氧化鉭陶瓷,、氧化銅陶瓷、氧化鉻陶瓷,、氧化銻陶瓷等樣品的檢測,。

測試儀器

　　表面氧化層厚度測試相關(guān)儀器：

　　X射線衍射儀：可用于測試氧化層的晶體結(jié)構(gòu)和厚度，非常精確,。

　　掃描電子顯微鏡(SEM)：觀察氧化層的表面形貌和厚度分布,。

　　原子力顯微鏡(AFM)：用于表面形貌和膜厚的納米級測量。

　　白光干涉儀：測量氧化層的厚度和膜厚均勻性,。

　　拉曼光譜儀：分析氧化層的結(jié)構(gòu)和成分,。

　　電化學工作站：用于測試氧化層的電學性能。

　　光學顯微鏡：對氧化層進行宏觀觀察和分析,。

表面氧化層厚度測試標準

　　ASTM B487-1985(2013) 用橫斷面顯微觀察法測量金屬及氧化層厚度的試驗方法

檢測流程

　　1,、提供在線咨詢和電話溝通服務(wù)。

　　2,、由專人負責發(fā)送對應(yīng)的實驗室地址,，郵遞檢測樣品到本所實驗室或上門采樣。

　　3,、為您對接工程師,由工程師評估后報價,，便捷實惠。

　　4,、簽署委托書,，支付檢測所需費用，深入開展實驗,。

　　5,、約定時間完成檢測，出具檢測報告,。

　　6,、郵寄檢測報告，專屬1V1售后服務(wù),。

　　工程師會根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點,、不同行業(yè)和不同國家的法規(guī)標準以及客戶的需求，選取相應(yīng)的檢測項目和方法進行表面氧化層厚度測試,。

中析儀器 資質(zhì)