參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

　　中析研究所可基于相應(yīng)的氧化程度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，采用各種分析測(cè)試方法進(jìn)行檢測(cè)服務(wù),。同時(shí),，我們還能根據(jù)客戶的需求，設(shè)計(jì)個(gè)性化的檢測(cè)方案,，為客戶提供非標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)服務(wù),。

氧化程度檢測(cè)項(xiàng)目

　　中析服務(wù)項(xiàng)目一般包括：

　　表面氧化膜厚度、氧化層成分、晶粒尺寸,、結(jié)晶度,、表面粗糙度、氧化物形貌,、氧化物分布,、表面能、生長(zhǎng)速率,、晶界擴(kuò)散,、晶體缺陷、晶粒取向,、晶體形貌,、晶格畸變、應(yīng)力狀態(tài),、晶體生長(zhǎng)方式等,。

氧化程度檢測(cè)范圍

　　鐵、鋁,、銅,、鎳、鈦,、鋅,、鎂、鎢,、鉻,、鈷、金屬材料,、合金材料,、塑料、陶瓷,、電子元件,、涂層材料、玻璃,、纖維復(fù)合材料,、橡膠、紙張,、氧化鋁,、氧化鋯、氧化硅,、氧化鐵,、氧化鎂,、氧化鈦、氧化鉭,、氧化銅,、氧化鉻、氧化銻等樣品的檢測(cè),。

測(cè)試儀器

　　氧化程度檢測(cè)相關(guān)儀器：

　　掃描電子顯微鏡(SEM)：用于觀察氧化層表面形貌和結(jié)構(gòu)特征,。

　　X射線光電子能譜儀(XPS)：用于分析氧化層表面成分和化學(xué)狀態(tài)。

　　原子力顯微鏡(AFM)：測(cè)量氧化層的粗糙度和表面形貌,。

　　電化學(xué)工作站：用于測(cè)試氧化層的電化學(xué)性能和腐蝕行為,。

　　透射電子顯微鏡(TEM)：觀察氧化層的顯微組織結(jié)構(gòu)和晶體結(jié)構(gòu)。

　　硬度計(jì)：測(cè)量氧化層的硬度值,。

　　光學(xué)顯微鏡：用于快速觀察氧化層的形貌和厚度,。

　　電子能譜儀(EDS)：分析氧化層的元素成分和分布。

　　拉曼光譜儀：分析氧化層的晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分,。

　　腐蝕實(shí)驗(yàn)設(shè)備：用于模擬不同腐蝕環(huán)境下氧化層的性能變化,。

氧化程度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

　　ASTM D5263-2015 用堿萃取法測(cè)定煙煤中相對(duì)氧化程度的試驗(yàn)方法

　　JIS K5600-8-3-2008 涂料一般試驗(yàn)方法-第8部分:漆膜剝蝕的評(píng)定-第3節(jié):氧化程度

　　SS 5 PART H3-1988 色漆、清漆及相關(guān)材料的測(cè)試方法:氧化程度

檢測(cè)流程

　　1,、提供在線咨詢和電話溝通服務(wù),。

　　2,、由專人負(fù)責(zé)發(fā)送對(duì)應(yīng)的實(shí)驗(yàn)室地址,，郵遞檢測(cè)樣品到本所實(shí)驗(yàn)室或上門采樣。

　　3,、為您對(duì)接工程師,由工程師評(píng)估后報(bào)價(jià),，便捷實(shí)惠。

　　4,、簽署委托書,，支付檢測(cè)所需費(fèi)用，深入開展實(shí)驗(yàn),。

　　5,、約定時(shí)間完成檢測(cè)，出具檢測(cè)報(bào)告,。

　　6,、郵寄檢測(cè)報(bào)告，專屬1V1售后服務(wù),。

　　工程師會(huì)根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn),、不同行業(yè)和不同國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)以及客戶的需求，選取相應(yīng)的檢測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行氧化程度檢測(cè),。

中析儀器 資質(zhì)