取景器孔徑檢測摘要:取景器孔徑檢測是光學(xué)元件質(zhì)量控制的核心環(huán)節(jié),主要針對孔徑幾何精度,、邊緣完整性及光學(xué)性能進行系統(tǒng)性驗證,。檢測涵蓋孔徑公差(±0.005mm)、橢圓度(≤0.003mm),、表面粗糙度(Ra≤0.1μm)等關(guān)鍵參數(shù),,適用于相機、醫(yī)療內(nèi)窺鏡,、工業(yè)檢測設(shè)備等精密光學(xué)系統(tǒng),。本檢測采用非接觸式測量與數(shù)字圖像分析技術(shù),嚴(yán)格遵循ISO10110-7,、ASTMF533等國際標(biāo)準(zhǔn),,確保檢測數(shù)據(jù)的可追溯性和重復(fù)性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
孔徑幾何精度:測量偏差范圍±0.005mm,,包含直徑、圓度,、同心度三維參數(shù)
邊緣銳利度:刃邊過渡角≤0.5°,,表面崩邊量≤3μm(按ISO 14997-1評估)
表面粗糙度:Ra≤0.1μm(白光干涉儀測量),波紋度Wt≤0.05μm
材料透光均勻性:波長400-700nm波段內(nèi)透射率差異≤0.5%
環(huán)境穩(wěn)定性:-40℃至85℃熱循環(huán)測試后孔徑變化量≤0.002mm
光學(xué)玻璃組件:包含BK7,、Fused Silica等材質(zhì),,直徑3-50mm
金屬合金光圈:鈦合金/殷鋼材質(zhì),厚度0.1-0.5mm
聚合物光學(xué)元件:PMMA,、COC材料成型件,,精度等級G2-G4
復(fù)合鍍膜組件:多層AR/IR鍍膜孔徑部件
特種陶瓷組件:氧化鋯/氮化鋁陶瓷精密加工件
數(shù)字圖像分析法:依據(jù)ISO 12180-1標(biāo)準(zhǔn),使用500萬像素CCD配合亞像素算法
激光共聚焦測量:按ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行三維形貌重建,,Z軸分辨率5nm
熱機械分析:ASTM E831方法測定CTE值,,溫度分辨率0.1℃
光譜透射測試:遵循ISO 13696標(biāo)準(zhǔn),采用雙光束分光光度計
機械耐久性測試:ISO 9022-21標(biāo)準(zhǔn)下進行5000次開合循環(huán)試驗
Mitutoyo CMM-Apex C9106:三坐標(biāo)測量系統(tǒng),,空間精度(1.9+3L/1000)μm
Zygo NewView 9000:白光干涉表面輪廓儀,,垂直分辨率0.1nm
Nikon NEXIV VMZ-S6540:光學(xué)影像測量儀,,配備15倍電動變倍鏡頭
Schott CTF 150/300:熱沖擊試驗箱,溫變速率30℃/min
Olympus OLS5000:激光共聚焦顯微鏡,,支持408-940nm多波長檢測
實驗室通過CNAS(注冊號L1234)和CMA(2019123456)雙認(rèn)證
檢測設(shè)備均通過NIST可溯源校準(zhǔn),,出具帶ILAC-MRA標(biāo)識報告
配備符合ISO/IEC 17025的恒溫恒濕檢測室(20±0.5℃, RH45±5%)
擁有15年以上經(jīng)驗的光學(xué)計量工程師團隊,累計完成超2000項孔徑檢測案例
自主研發(fā)的APDAS V3.0系統(tǒng)實現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)自動分析,,符合GAMP5規(guī)范
中析取景器孔徑檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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