參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

配位鍵鍵長(zhǎng)：測(cè)量范圍0.1-0.3nm,，精度±0.005nm

配位鍵鍵能：檢測(cè)范圍50-500kJ/mol,，誤差±2%

配位數(shù)測(cè)定：識(shí)別范圍1-12，分辨率0.1

絡(luò)合物穩(wěn)定性常數(shù)：檢測(cè)范圍10^2-10^30 L/mol

配體場(chǎng)強(qiáng)度參數(shù)：Dq值測(cè)定（100-4000cm?1）

檢測(cè)范圍

金屬有機(jī)框架材料（MOFs）

配位聚合物及超分子化合物

過(guò)渡金屬催化劑（含Ru,、Fe、Co配合物）

生物無(wú)機(jī)配合物（血紅蛋白,、葉綠素等）

稀土發(fā)光材料（Eu3+,、Tb3+配合物）

檢測(cè)方法

X射線衍射法：ASTM E1941、GB/T 23413

紫外-可見(jiàn)光譜法：ISO 18557,、GB/T 30430

熱重分析法：GB/T 4498,、ASTM E1131

磁化率測(cè)定法：ISO 17561、GB/T 22388

電子順磁共振法：ASTM E3039,、GB/T 31524

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Rigaku SmartLab SE,，配備HyPix-3000檢測(cè)器，晶體結(jié)構(gòu)解析功能

同步熱分析儀：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter,，支持TG-DSC聯(lián)用技術(shù)

電子順磁共振譜儀：Bruker ELEXSYS E580,，頻率范圍9-275GHz

紫外-可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)：PerkinElmer Lambda 1050+，波長(zhǎng)范圍175-3300nm

X射線光電子能譜儀：Kratos AXIS Supra,，能量分辨率<0.45eV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)