參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

元素定性分析（波長范圍：190-900nm,，精度±0.1nm）

元素定量分析（檢出限：0.1ppm-10ppm,，RSD≤3%）

光譜分辨率測(cè)試（半峰寬≤0.05nm，狹縫寬度5-50μm可調(diào)）

系統(tǒng)信噪比評(píng)估（S/N≥1000:1@全波段）

長期穩(wěn)定性驗(yàn)證（8小時(shí)漂移≤±0.5%）

檢測(cè)范圍

金屬及合金材料（鋁,、銅,、鈦基合金等元素含量分析）

半導(dǎo)體材料（硅片摻雜濃度、GaAs/InP外延層厚度）

環(huán)境檢測(cè)樣品（土壤/水體中重金屬Pb,、Cd,、Hg檢測(cè)）

生物醫(yī)藥材料（藥物活性成分拉曼光譜表征）

光學(xué)鍍膜材料（膜層厚度與折射率測(cè)量）

檢測(cè)方法

ASTM E1252-17：分子光譜法通則

ISO 14707:2015：輝光放電發(fā)射光譜法

GB/T 223.3-2022：鋼鐵及合金化學(xué)分析方法

GB/T 20123-2006：鋼鐵多元素含量測(cè)定（ICP-AES法）

ISO 11885:2007：水質(zhì)-電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Scientific iCAP 7400：全譜直讀ICP-OES,，支持74種元素同步分析

Agilent 4100 Microwave Plasma-AES：微波等離子體光源,，適用于鹵素檢測(cè)

PerkinElmer Optima 8300：雙觀測(cè)ICP-OES系統(tǒng)，軸向/徑向雙模式切換

Shimadzu ICPE-9820：真空紫外光譜通道,，支持S,、P等元素檢測(cè)

Bruker S8 TIGER：波長色散X射線熒光光譜儀，配備4kW高壓發(fā)生器

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)