參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

純度測定：WO?含量≥99.5%，游離氧含量≤0.3%

晶相結(jié)構(gòu)分析：單斜相含量≥98%,，四方相比例≤2%

粒徑分布：D50值0.5-2.0μm,，D90≤5.0μm

比表面積：BET法測定1-10m2/g

雜質(zhì)元素含量：Fe≤50ppm,，Ni≤30ppm，Cr≤20ppm

檢測范圍

高純二氧化鎢粉末材料

半導(dǎo)體用鎢氧化物薄膜涂層

工業(yè)催化劑載體材料

特種陶瓷基復(fù)合材料

電致變色器件功能層材料

檢測方法

X射線衍射法（ASTM E975/GB/T 23413-2009）晶相定量分析

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ISO 17294-2/GB/T 23942-2009）痕量元素測定

激光散射法（ISO 13320-1）粒徑分布測試

靜態(tài)容量法（GB/T 19587-2017）比表面積測定

熱重分析法（ASTM E1131）氧含量測定

檢測設(shè)備

Rigaku SmartLab X射線衍射儀：θ-θ測角儀系統(tǒng),，Cu靶Kα輻射源

Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：質(zhì)量分辨率≤0.8amu,，檢出限0.1ppt

Malvern Mastersizer 3000：測量范圍0.01-3500μm，雙波長激光系統(tǒng)

Micromeritics ASAP 2460：孔徑分析范圍3.5-5000?,，真空度10?3Pa

NETZSCH STA 449F3：TG分辨率0.1μg,，升溫速率0.01-50K/min

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)