參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)試：測(cè)量0.5-10T范圍內(nèi)磁場(chǎng)分布精度（±0.05T）

2. 磁場(chǎng)均勻性驗(yàn)證：在有效工作區(qū)域內(nèi)偏差值≤3%

3. 冷卻系統(tǒng)性能：液氦循環(huán)溫度穩(wěn)定性（4.2K±0.1K）

4. 分選效率測(cè)定：目標(biāo)礦物回收率≥98%，雜質(zhì)去除率≥95%

5. 能耗指標(biāo)分析：?jiǎn)挝惶幚砹抗摹?5kW·h/t

6. 機(jī)械振動(dòng)監(jiān)測(cè)：軸向振幅≤50μm（頻率范圍0-200Hz）

7. 絕緣性能測(cè)試：線(xiàn)圈對(duì)地絕緣電阻≥100MΩ（DC1000V）

檢測(cè)范圍

1. 鐵礦石分選系統(tǒng)：用于赤鐵礦,、磁鐵礦等金屬礦物的品位提升

2. 稀土礦物提純裝置：針對(duì)釹鐵硼,、鑭系氧化物的選擇性分離

3. 電子廢棄物處理設(shè)備：PCB板中貴金屬與非金屬組分的回收系統(tǒng)

4. 高嶺土精制生產(chǎn)線(xiàn)：去除鈦鐵礦等染色雜質(zhì)的工業(yè)級(jí)裝備

5. 核廢料處理裝置：放射性物質(zhì)與非放射性物質(zhì)的磁分離系統(tǒng)

檢測(cè)方法

1. ASTM A937/A937M-17：磁選系統(tǒng)軸向磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)定規(guī)程

2. ISO 13317-3:2021：梯度磁場(chǎng)中顆粒分離效率的定量分析方法

3. GB/T 24521-2020：超導(dǎo)磁體低溫系統(tǒng)性能測(cè)試通用要求

4. IEC 60512-27-100:2021：高場(chǎng)強(qiáng)環(huán)境下的電磁兼容性測(cè)試規(guī)范

5. GB/T 35067-2018：礦物加工磁選設(shè)備能效限定值及測(cè)試方法

6. ISO 10816-3:2018：旋轉(zhuǎn)機(jī)械振動(dòng)烈度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量與評(píng)價(jià)

檢測(cè)設(shè)備

1. Lake Shore 475型數(shù)字高斯計(jì)：分辨率0.1mT，量程0-30T的三軸磁場(chǎng)測(cè)量

2. Oxford Instruments Teslatron PT低溫恒溫器：4K-300K溫區(qū)控制系統(tǒng)

3. Bruker EMXplus EPR譜儀：用于超導(dǎo)線(xiàn)圈微觀(guān)缺陷的非破壞性檢測(cè)

4. Keysight N6705C直流電源分析儀：功率精度±0.02%的能耗測(cè)試系統(tǒng)

5. Polytec PSV-500掃描式激光測(cè)振儀：納米級(jí)振動(dòng)位移測(cè)量裝置

6. FLIR T1020紅外熱像儀：-40℃至+2000℃溫度場(chǎng)分布監(jiān)測(cè)

7. Agilent 4294A精密阻抗分析儀：線(xiàn)圈阻抗特性測(cè)試（40Hz-110MHz）

8. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：分選產(chǎn)物粒度分布分析（0.01-3500μm）

9. Kistler 5073A三向加速度傳感器：機(jī)械振動(dòng)頻譜采集與分析系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)