參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主成分含量測(cè)定：HfO?（20-50%）,、ZrO?（30-60%）、SiO?（5-15%）的精確比例分析

2.微量元素篩查：Fe?O?（≤0.5%）,、TiO?（≤0.3%）,、U（≤100ppm）、Th（≤200ppm）的痕量檢測(cè)

3.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD分析立方晶系參數(shù)（a=7.6-7.8）,，晶格畸變度≤0.15%

4.物理性能測(cè)試：密度（4.5-6.0g/cm）,、莫氏硬度（6.5-8.0）、孔隙率（≤1.5%）

5.熱穩(wěn)定性評(píng)估：TG-DSC聯(lián)用測(cè)定相變溫度（1200-1600℃）,，熱膨脹系數(shù)（5.8-6.510??/℃）

檢測(cè)范圍

1.核工業(yè)用硅鉿鋯礦原料：核反應(yīng)堆控制棒材料前驅(qū)體

2.陶瓷復(fù)合材料基體：耐高溫結(jié)構(gòu)陶瓷原料

3.耐火材料制品：熔煉爐襯里專用合成礦物

4.電子元件封裝材料：高頻微波器件封裝基材

5.地質(zhì)研究樣品：巖漿巖成因分析標(biāo)樣

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（ASTMC1605）：主量元素定量分析

2.X射線衍射分析法（ISO20203）：晶體結(jié)構(gòu)精修與物相鑒定

3.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（GB/T17434.2）：痕量元素ppb級(jí)檢測(cè)

4.阿基米德法密度測(cè)定（GB/T2997）：開孔/閉孔率同步測(cè)試

5.激光閃射法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試（ISO22007-4）：高溫?zé)釘U(kuò)散率測(cè)量

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMax波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀：主量元素快速定量

2.RigakuSmartLabSEX射線衍射儀：高精度晶體結(jié)構(gòu)解析

3.ThermoiCAPRQ電感耦合等離子體質(zhì)譜儀：ppt級(jí)微量元素檢測(cè)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)