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鎵球檢測(cè)

2025-03-31 關(guān)鍵詞:鎵球項(xiàng)目報(bào)價(jià),鎵球測(cè)試周期,鎵球測(cè)試方法 相關(guān):
鎵球檢測(cè)

鎵球檢測(cè)摘要:鎵球檢測(cè)是保障高純度金屬鎵材料性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié),涵蓋成分分析,、物理特性及雜質(zhì)控制等核心指標(biāo),。專業(yè)檢測(cè)需依據(jù)ASTM,、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系,,通過(guò)精密儀器對(duì)純度(≥99.99%),、密度(5.904g/cm3±0.005),、表面缺陷(≤0.1mm2)等參數(shù)進(jìn)行量化評(píng)估,,適用于半導(dǎo)體、光伏及特種合金等領(lǐng)域材料的質(zhì)量控制,。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.純度分析:采用ICP-MS測(cè)定總金屬純度≥99.99%,,非金屬雜質(zhì)總量≤50ppm

2.痕量元素檢測(cè):鐵(Fe)≤5ppm、銅(Cu)≤3ppm,、鋅(Zn)≤2ppm(依據(jù)SEMI標(biāo)準(zhǔn))

3.密度測(cè)試:20℃條件下實(shí)測(cè)值5.904g/cm0.005

4.表面光潔度:激光共聚焦顯微鏡測(cè)量Ra值≤0.8μm

5.氧化層厚度:XPS分析表面氧化鎵層≤10nm

6.晶格缺陷:X射線衍射儀測(cè)定晶格畸變率<0.03%

7.熱穩(wěn)定性:DSC測(cè)試熔點(diǎn)29.76℃0.1℃,,相變焓值偏差≤2%

檢測(cè)范圍

1.高純鎵球(6N級(jí)):應(yīng)用于MBE分子束外延設(shè)備源材料

2.半導(dǎo)體封裝用鎵球:直徑0.3-5mm的BGA焊球材料

3.液態(tài)金屬合金:鎵銦錫合金(Galinstan)組分驗(yàn)證

4.核工業(yè)屏蔽材料:含鎵中子吸收復(fù)合材料

5.光伏靶材:CIGS薄膜太陽(yáng)能電池用鎵基濺射靶材

6.醫(yī)用溫度計(jì)填充物:生物相容性鎵基液態(tài)金屬

檢測(cè)方法

1.ASTME1479-16《金屬化學(xué)分析的ICP光譜法》測(cè)定主量元素

2.ISO18114:2021《表面化學(xué)分析-次級(jí)離子質(zhì)譜法》表征表面成分

3.GB/T4375.1-2024《高純金屬化學(xué)分析方法第1部分:痕量雜質(zhì)測(cè)定》

4.JISH1181:2020《鎵中雜質(zhì)元素的發(fā)射光譜分析法》

5.GB/T14265-2023《金屬材料熱分析示差掃描量熱法》

6.SEMIC3.45-0321《電子級(jí)鎵材料規(guī)范》表面潔凈度測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF:元素成分快速篩查(0.1-100wt%)

2.Agilent7900ICP-MS:ppb級(jí)痕量元素定量分析(質(zhì)量數(shù)范圍7-260amu)

3.BrukerD8ADVANCEXRD:Cu靶Kα射線(λ=1.5406)晶相結(jié)構(gòu)解析

4.MettlerToledoXPR206密度計(jì):精度0.0001g/cm的固體密度測(cè)定

5.ZygoNewView9000白光干涉儀:三維表面形貌測(cè)量(垂直分辨率0.1nm)

6.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀:TG-DSC聯(lián)用熱特性測(cè)試(升溫速率0.01-100℃/min)

7.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡:15kV加速電壓下微區(qū)成分Mapping分析

8.Keysight5900-SPM原子力顯微鏡:接觸模式表面粗糙度測(cè)量(掃描范圍90μm)

9.PANalyticalAxiosMAXXRF:Rh靶端窗X光管(4kW)全元素定量

10.LECOONH836氧氮?dú)浞治鰞x:惰性氣體熔融法測(cè)定氧含量(檢出限0.05ppm)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急,。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析鎵球檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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