參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1. 顆粒尺寸分布：D10≤5μm, D50=10-50μm, D90≤100μm（激光衍射法）

2. 單位面積斑點密度：≤200個/cm2（光學(xué)顯微計數(shù)）

3. 形狀系數(shù)：0.7-1.0（動態(tài)圖像分析）

4. 元素成分偏差：±2wt%（EDS能譜分析）

5. 表面粗糙度Ra值：≤0.8μm（白光干涉儀）

檢測范圍

1. 金屬粉末冶金制品（鈦合金/鋁合金）

2. 陶瓷基熱障涂層

3. 高分子注塑顆粒

4. 光伏硅片表面制絨層

5. 鋰電池電極漿料涂層

檢測方法

1. ASTM B822-20 金屬粉末粒度激光衍射標準

2. ISO 13322-1:2021 靜態(tài)圖像分析法

3. GB/T 19077-2016 粒度分布激光衍射法

4. ASTM E112-13 晶粒度測定方法

5. GB/T 3505-2020 表面粗糙度參數(shù)測量規(guī)范

檢測設(shè)備

1. 馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射粒度分析儀（0.01-3500μm）

2. Keyence VHX-7000：4K數(shù)字顯微鏡（5000萬像素）

3. Bruker ContourGT-K：白光干涉三維形貌儀

4. 奧林巴斯 DSX1000：景深擴展數(shù)字顯微鏡（23倍變焦）

5. Horiba Partica LA-960V2：動態(tài)光散射粒度儀

6. Zeiss Sigma 500：場發(fā)射掃描電鏡（1nm分辨率）

7. Shimadzu EDX-7000：能量色散X射線光譜儀

8. Microtrac S3500：三激光粒度分析系統(tǒng)

9. Mitutoyo SJ-410：接觸式表面粗糙度測量儀

10. Malvern Morphologi 4：全自動顆粒形貌分析系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)