參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 純度分析：采用TGA法測(cè)定碳質(zhì)含量≥99.8%,，金屬催化劑殘留≤0.05wt%

2. 直徑分布：通過(guò)TEM統(tǒng)計(jì)80%以上管徑集中在0.8-2.0nm區(qū)間

3. 長(zhǎng)度分布：AFM測(cè)量平均長(zhǎng)度＞5μm，長(zhǎng)徑比＞1000:1

4. 缺陷密度：拉曼光譜ID/IG值＜0.05

5. 手性指數(shù)：近紅外吸收光譜測(cè)定(6,5)/(7,5)手性占比＞60%

檢測(cè)范圍

1. 半導(dǎo)體級(jí)單壁碳納米管（場(chǎng)效應(yīng)晶體管原料）

2. 復(fù)合材料增強(qiáng)用單壁碳納米管（聚合物基/陶瓷基）

3. 生物醫(yī)學(xué)載體用功能化單壁碳納米管（羥基/羧基修飾）

4. 儲(chǔ)能器件電極材料（鋰離子電池/超級(jí)電容器）

5. 光學(xué)器件用定向排列單壁碳納米管薄膜

檢測(cè)方法

1. ASTM E2523-13 拉曼光譜法測(cè)定碳納米管結(jié)構(gòu)特征

2. ISO/TS 10798:2011 掃描電鏡表征納米管形貌

3. GB/T 33818-2017 熱重分析法測(cè)定純度

4. ISO 29794:2019 透射電鏡直徑統(tǒng)計(jì)方法

5. GB/T 40066-2021 近紅外光譜手性識(shí)別技術(shù)規(guī)范

6. ASTM D8350-20 XPS表面元素分析標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1. Horiba LabRAM HR Evolution拉曼光譜儀（532nm激光源,，0.5cm?1分辨率）

2. JEOL JEM-ARM300F球差校正透射電鏡（70pm點(diǎn)分辨率）

3. Netzsch STA 449 F5同步熱分析儀（0.1μg稱量精度）

4. Bruker Dimension Icon原子力顯微鏡（峰值力輕敲模式）

5. Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀（微聚焦單色化光源）

6. Agilent Cary 7000紫外-近紅外分光光度計(jì)（175-3300nm波長(zhǎng)范圍）

7. Malvern Zetasizer Nano ZSP動(dòng)態(tài)光散射儀（0.3nm-10μm粒徑測(cè)量）

8. Renishaw inVia Qontor共聚焦顯微拉曼系統(tǒng)（空間分辨率250nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)