參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

1. 純度分析：Sn含量≥99.90%（XRF法測定）

2. 元素雜質：Pb≤0.010%、Cu≤0.005%,、Bi≤0.005%（ICP-OES法）

3. 物理性能：密度7.28-7.31g/cm3（比重瓶法）,、熔點231.93±0.5℃（DSC熱分析）

4. 表面質量：氧化層厚度≤50nm（SEM-EDS聯(lián)用）、劃痕深度≤5μm（白光干涉儀）

5. 化學成分：As≤0.002%,、Sb≤0.005%、Fe≤0.003%（GB/T 3260.2標準）

檢測范圍

1. 工業(yè)級錫錠（SN99.90/SN99.95牌號）

2. 電子焊料（Sn-Cu/Sn-Ag-Cu合金體系）

3. 鍍錫鋼板（馬口鐵基材鍍層厚度0.4-2.8μm）

4. 錫基軸承合金（Babbitt合金中Sn-Sb-Cu系材料）

5. 錫化工產(chǎn)品（二氧化錫粉末D50粒徑≤5μm）

檢測方法

1. ASTM E1479-16：XRF法測定金屬錫中主量元素

2. ISO 1053-1:2018：火花直讀光譜法測定雜質元素

3. GB/T 3260.2-2013：化學滴定法測定錫錠銅含量

4. ASTM E29-20：數(shù)值修約規(guī)則在成分分析中的應用

5. GB/T 5121.27-2019：ICP-OES法測定鉛,、鉍等痕量元素

檢測設備

1. Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析儀（元素范圍Mg-U,，精度±0.01%）

2. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES（檢出限0.1ppm級）

3. Mettler Toledo DSC3差示掃描量熱儀（溫度分辨率0.1℃）

4. ZEISS Sigma 500場發(fā)射掃描電鏡（放大倍數(shù)50萬倍）

5. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀（角度重復性±0.0001°）

6. Agilent 7900 ICP-MS（同位素比值測定精度＜0.05%）

7. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀（縱向分辨率0.01μm）

8. Netzsch DIL 402C熱膨脹儀（膨脹系數(shù)測量精度±5%）

9. Shimadzu AG-Xplus電子萬能試驗機（載荷范圍50N-300kN）

10. Keyence VK-X3000激光共聚焦顯微鏡（Z軸分辨率1nm）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務。

中析儀器 資質