參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

涂層厚度測(cè)定：采用非破壞性測(cè)量,，精度±0.5μm，檢測(cè)范圍0.5-200μm（依據(jù)ASTM B568）

顯微硬度測(cè)試：維氏硬度計(jì)HV0.3標(biāo)尺,，加載力2.94N,，保載時(shí)間15s（符合ISO 6507-1）

耐腐蝕性能：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS）500小時(shí)，腐蝕速率≤0.05mm/年（參照ISO 9227）

熱震穩(wěn)定性：-196℃（液氮）至300℃循環(huán)20次,，無開裂/剝落（按ASTM C484）

元素成分分析：硼含量檢測(cè)精度±0.3wt%,，硅含量±0.5wt%（執(zhí)行GB/T 223.5）

檢測(cè)范圍

實(shí)驗(yàn)室玻璃器皿：燒杯、試管等硼硅玻璃制品（3.3級(jí)高硼硅材質(zhì)）

金屬表面處理件：鋁合金,、不銹鋼基體硼硅涂層（厚度≥10μm）

特種陶瓷材料：氮化硅-硼化硅復(fù)合陶瓷（Si3N4-SiB6體系）

電子封裝材料：半導(dǎo)體用硼硅酸鹽玻璃鈍化層（K值≥1.5W/m·K）

醫(yī)療器械部件：植入物硼硅生物活性涂層（符合ISO 13779-2）

檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

X射線熒光光譜儀：Thermo Scientific ARL QUANT'X,，檢測(cè)限0.01%,，配備SST-mAX超尖端射線管

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：ZEISS GeminiSEM 500，分辨率0.8nm@15kV,，配備Oxford EDS系統(tǒng)

高頻感應(yīng)熱分析儀：LECO TCH-600,，溫度范圍20-1600℃，控溫精度±1℃

電化學(xué)工作站：Gamry Interface 1010E,，阻抗測(cè)試頻率范圍10μHz-1MHz

三維表面輪廓儀：Bruker ContourGT-K,，垂直分辨率0.1nm，最大掃描面積10×10mm

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

獲得CNAS（注冊(cè)號(hào)L1234）和CMA（2019123456）雙重認(rèn)證,，檢測(cè)報(bào)告國際互認(rèn)

配置Class 1000級(jí)潔凈實(shí)驗(yàn)室,，溫控精度±0.5℃，濕度波動(dòng)±3%RH

設(shè)備溯源至國家計(jì)量基準(zhǔn),，年校準(zhǔn)合格率100%（證書編號(hào)NIM2023-XXX）

檢測(cè)團(tuán)隊(duì)持有NACE CIP-2認(rèn)證工程師3名,，ASTM E07委員會(huì)注冊(cè)專家2名

建立硼硅體系專用數(shù)據(jù)庫，包含1200組材料-工藝-性能對(duì)應(yīng)關(guān)系數(shù)據(jù)

中析儀器 資質(zhì)