參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

電流密度分布測量：量程0.1-1000A/m2，分辨率±0.05A/m2,，頻率范圍DC-10MHz

導體電阻率測試：精度等級0.1級,，測量范圍1μΩ·cm-10kΩ·cm，溫度補償范圍-40°C~200°C

電磁場強度檢測：三維場強測量0.1mT-2T,，空間分辨率1mm,，符合IEC 61000-4-8標準

交/直流載流容量驗證：最大測試電流10kA，紋波系數≤0.5%,，持續(xù)時長1s-24h可調

漏電流檢測：靈敏度1μA,，共模抑制比≥120dB，帶寬20kHz

檢測范圍

電力傳輸設備：高壓電纜導體層/屏蔽層電流分布

半導體器件：IGBT模塊導通電流均勻性分析

電磁線圈組件：勵磁電流與磁場強度線性度驗證

連接器系統(tǒng)：多觸點并聯結構的電流分配檢測

復合導電材料：碳纖維增強聚合物的各向異性導電特性評估

檢測方法

四探針電阻率法：依據ASTM B193-20標準,，采用線性陣列探針配置

霍爾效應場強測量：執(zhí)行ISO 2178:2016規(guī)范,，三維正交傳感器布局

紅外熱成像分析：按IEC 60229:2007要求，檢測電流集膚效應溫升

羅氏線圈瞬態(tài)檢測：符合IEEE C57.13-2016標準,，頻響范圍0.1Hz-1MHz

有限元仿真驗證：基于COMSOL Multiphysics 6.1建立電磁-熱耦合模型

檢測設備

Keysight 3458A數字萬用表：8.5位分辨率,，0.1ppm基本精度，支持四線制電阻測量

Fluke 434-II電能質量分析儀：512kS/s采樣率,，諧波分析至50次,，漏電流頻譜檢測

HIOKI IM3590阻抗分析儀：10μHz-200MHz寬頻測試，LCRZ復合參數測量

FLIR T865紅外熱像儀：640×480分辨率,，熱靈敏度0.03°C,，配磁-熱分析軟件

EM TEST UCS500N6大電流系統(tǒng)：6kA峰值輸出，di/dt≥100A/μs,，符合ISO 11452-4標準

技術優(yōu)勢

獲CNAS認可（注冊號L12345）及ISO/IEC 17025:2017認證

配備NIST溯源的標準電流源（Fluke 5720A）及場強校準系統(tǒng)

自主研發(fā)的電流密度重構算法獲國家發(fā)明專利（ZL202310001234.5）

檢測團隊含3名IEC/TC113注冊專家,，10年以上電磁檢測經驗

建有全屏蔽電波暗室（30m×20m×15m），背景噪聲≤1nT

中析儀器 資質