參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

平面度檢測(cè)：允許誤差≤0.02mm/m（ISO 12180:2017標(biāo)準(zhǔn)）

表面粗糙度檢測(cè)：Ra值范圍0.8-3.2μm（ISO 4287:1997規(guī)范）

布氏硬度檢測(cè)：鑄鐵材料HBW 180-250,，鋁合金HBW 60-120（ASTM E10-18）

密封壓力測(cè)試：0.6-2.5MPa梯度保壓測(cè)試（ISO 5208:2015）

微觀結(jié)構(gòu)分析：碳化物分布,、孔隙率≤0.5%（ASTM E3-11制樣標(biāo)準(zhǔn)）

檢測(cè)范圍

鑄鐵汽缸體

鋁合金汽缸體

不銹鋼復(fù)合缸體

高溫合金缸體

陶瓷涂層缸體

檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

Hexagon Absolute ARM 7軸測(cè)量臂

重復(fù)精度±0.015mm，配備VAST XXT掃描探頭

Taylor Hobson Form Talysurf i系列

粗糙度測(cè)量分辨率0.8nm,，支持ISO 13565標(biāo)準(zhǔn)

Instron 8862萬能試驗(yàn)機(jī)

配備100kN載荷傳感器,，實(shí)現(xiàn)HBW自動(dòng)換算

ATS 525氣密檢測(cè)系統(tǒng)

0.001cc/min泄漏率檢測(cè)，符合ISO 17025校準(zhǔn)

FEI Quanta 650 FEG SEM

1nm分辨率,，配備EBSD晶體學(xué)分析模塊

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)