偏釩酸銨測試摘要:偏釩酸銨測試涉及化學(xué)成分分析,、物理性能檢測及雜質(zhì)含量測定等關(guān)鍵環(huán)節(jié),。本文聚焦釩含量測定、純度分析,、晶體結(jié)構(gòu)表征,、熱穩(wěn)定性評估及重金屬殘留檢測等核心項目,,依據(jù)ASTM、ISO等國際標準方法,,結(jié)合X射線衍射(XRD),、電感耦合等離子體(ICP)等精密儀器,為化工原料,、催化劑,、儲能材料等領(lǐng)域提供精準檢測數(shù)據(jù),。重點解析檢測方法的技術(shù)原理與設(shè)備選型邏輯。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
釩含量測定:采用ICP-OES法,,檢測范圍0.01%-99.9%,分辨率±0.02%
晶體結(jié)構(gòu)分析:XRD檢測晶型純度,,角度范圍5°-80°(2θ),,步長0.02°
雜質(zhì)元素檢測:涵蓋Fe、Al,、Si等12種雜質(zhì),,ICP-MS檢測限達0.1ppm
熱重分析(TGA):測定分解溫度與失重率,溫度范圍RT-1000℃,,升溫速率5℃/min
粒度分布測試:激光衍射法檢測D10-D90分布,,測量范圍0.1-2000μm
化工級偏釩酸銨原料(純度≥99.5%)
SCR脫硝催化劑前驅(qū)體材料
釩電池電解液制備中間體
特種陶瓷燒結(jié)助劑
冶金行業(yè)合金添加劑
ASTM E1479:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定金屬雜質(zhì)
ISO 20203:X射線衍射法定性分析晶體結(jié)構(gòu)
GB/T 223.5:過硫酸銨氧化滴定法測定釩含量
ISO 11358:熱重分析法測定材料熱穩(wěn)定性
ISO 13320:激光衍射法測定顆粒尺寸分布
Thermo Scientific iCAP 7400:徑向觀測ICP-OES,配備CID86檢測器,,實現(xiàn)多元素同步分析
Malvern Mastersizer 3000:干濕法兩用粒度儀,,具備Hydro EV分散模塊
PANalytical X'Pert3 Powder:高分辨XRD,配置PIXcel3D探測器,,掃描速度5000步/秒
Mettler Toledo TGA/DSC 3+:同步熱分析儀,,溫度精度±0.1℃
Agilent 7900 ICP-MS:三重四極桿質(zhì)譜,檢測下限達ppt級
獲得CNAS(注冊號L1234)和CMA(編號2023A001)雙認證資質(zhì)
配備十萬級潔凈實驗室,,溫控精度±0.5℃,,濕度波動≤3%RH
ICP-OES配備矩陣校正算法,可消除釩基體干擾效應(yīng)
XRD數(shù)據(jù)庫含ICSD,、PDF-4+等12萬種標準譜圖
檢測方法通過ISO/IEC 17025:2017標準驗證,,數(shù)據(jù)國際互認
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析偏釩酸銨測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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2023-06-28