參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

配位鍵長(zhǎng)測(cè)定：分辨率±0.01?,，溫度范圍-196℃~600℃

配位鍵角分析：角度測(cè)量精度±0.1°,，支持動(dòng)態(tài)變溫測(cè)試

晶體場(chǎng)分裂能計(jì)算：電子躍遷能量范圍200-2500 nm

配位對(duì)稱性判定：基于Oh/Td/D4h等對(duì)稱群分類系統(tǒng)

電子密度拓?fù)浞治觯篞TAIM理論建模，臨界點(diǎn)定位誤差＜0.02 e·??3

檢測(cè)范圍

金屬有機(jī)框架材料（MOFs）

過(guò)渡金屬配合物催化劑

稀土摻雜發(fā)光材料

半導(dǎo)體量子點(diǎn)材料

生物大分子金屬配合物

檢測(cè)方法

X射線單晶衍射法：ASTM E1426-14(2020)標(biāo)準(zhǔn),，最小可測(cè)原子間距0.8?

擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)：ISO 20884:2019規(guī)范,，k空間分辨率3.5 ??1

拉曼光譜法：ISO 20310:2018標(biāo)準(zhǔn)，空間分辨率優(yōu)于1μm

電子能量損失譜(EELS)：ASTM E2862-18方法,，能量分辨率0.3 eV

磁圓二色性譜(MCD)：ISO 18115-4:2023規(guī)程，磁場(chǎng)強(qiáng)度0-7 T可調(diào)

檢測(cè)設(shè)備

Rigaku XtaLAB Synergy-S X射線衍射儀：配備HyPix-6000HE探測(cè)器,，Mo靶Kα輻射(λ=0.71073?)

JEOL JEM-2100F場(chǎng)發(fā)射透射電鏡：配備Gatan量子成像濾波系統(tǒng),，點(diǎn)分辨率0.19 nm

Thermo Scientific K-Alpha XPS系統(tǒng)：?jiǎn)紊獳l Kα光源，結(jié)合能精度±0.05 eV

Bruker Vertex 80v傅里葉紅外光譜儀：中紅外范圍4000-400 cm?1,，分辨率0.2 cm?1

Oxford Instruments Spectromag系統(tǒng)：超導(dǎo)磁體提供0-12 T磁場(chǎng),，溫度范圍1.5-300 K

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

獲CNAS(ISO/IEC 17025)和CMA雙認(rèn)證資質(zhì)，檢測(cè)數(shù)據(jù)國(guó)際互認(rèn)

配備三級(jí)防震平臺(tái)和恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室(20±0.5℃, RH50±2%)

自主開(kāi)發(fā)Polyhedron Analyzer Pro軟件,，符合ISO 9277:2010數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)團(tuán)隊(duì)含3名博士級(jí)材料表征專家,，年均完成200+復(fù)雜體系分析案例

建立ASTM E55委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)方法驗(yàn)證數(shù)據(jù)庫(kù)，涵蓋3000+配位結(jié)構(gòu)模型

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)