參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

二氧化硅（SiO?）含量檢測(cè)：檢測(cè)范圍0.01%-99.9%，精度±0.5%

氧化鋁（Al?O?）純度分析：檢測(cè)下限0.001%,，分辨率0.01%

氧化鐵（Fe?O?）總量測(cè)定：測(cè)量范圍0.005%-50%,，重復(fù)性≤1%

氧化鈣（CaO）與氧化鎂（MgO）聯(lián)合檢測(cè)：同步測(cè)定誤差≤0.3%

稀土氧化物總量檢測(cè)：包括La?O?、CeO?等15種元素,，檢測(cè)限0.0001%

檢測(cè)范圍

金屬合金材料：鈦合金,、鋁合金中的氧化物夾雜物

陶瓷基復(fù)合材料：碳化硅、氮化鋁陶瓷的氧含量控制

玻璃制品：光學(xué)玻璃,、光伏玻璃的氧化物組分分析

化工原料：催化劑載體,、吸附劑的氧化物質(zhì)譜分析

電子元件：半導(dǎo)體晶圓、磁性材料的氧化物膜層檢測(cè)

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）：ASTM C1605,、GB/T 16597

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：ISO 11885,、GB/T 20975.25

離子色譜法（IC）：ASTM D4327、GB/T 15454

熱重分析法（TGA）：ISO 11358,、GB/T 27761

激光誘導(dǎo)擊穿光譜法（LIBS）：ISO/TS 21396,、GB/T 38257

檢測(cè)設(shè)備

X射線熒光光譜儀：Thermo Scientific ARL PERFORM'X，全元素定量分析

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀：PerkinElmer Avio 550,，檢出限達(dá)ppb級(jí)

熱重分析儀：NETZSCH STA 449 F5,，溫度范圍20-1550℃

紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)：Shimadzu UV-2600i，波長(zhǎng)范圍185-900nm

激光誘導(dǎo)擊穿光譜系統(tǒng)：TSI ChemReveal,，空間分辨率5μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)