刨薄測試
刨薄測試摘要：刨薄測試是評估材料在減薄加工后性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵檢測項目，主要涵蓋厚度偏差,、力學性能及表面質(zhì)量等參數(shù)。本文系統(tǒng)闡述檢測項目,、適用材料范圍,、國際/國家標準方法及專業(yè)設(shè)備配置，為工程材料質(zhì)量控制提供標準化檢測方案,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
厚度偏差檢測：測量精度±0.5μm，允許偏差±5%標稱厚度
表面粗糙度測試：Ra值范圍0.1-6.3μm,，Rz值測量精度±0.02μm
抗拉強度測試：測量范圍10-1000MPa,，分辨率0.1MPa
彎曲強度檢測：三點彎曲試驗，跨距精度±0.1mm
密度測量：分辨率0.001g/cm3,，溫度補償范圍15-30℃
檢測范圍
金屬板材：鋁合金,、鈦合金、不銹鋼等軋制板材
塑料薄膜：PET,、PP,、PE等吹塑/流延成型薄膜
復合材料：碳纖維預(yù)浸料、玻璃鋼層壓板
木材制品：單板層積材,、膠合板表層
紡織品：涂層織物,、工業(yè)用無紡布
檢測方法
ASTM E177-20：非破壞性厚度測量標準方法
ISO 4287:2023：表面粗糙度參數(shù)定義與測量
GB/T 1040.2-2022：塑料拉伸性能試驗方法
ISO 178:2019：塑料彎曲性能測定
GB/T 533-2008：硫化橡膠密度測定
檢測設(shè)備
Mitutoyo Litematic VL-50：非接觸式激光測厚儀，分辨率0.1μm
Taylor Hobson Surtronic S-128：表面粗糙度輪廓儀,，Ra測量范圍0.01-50μm
Instron 5967：萬能材料試驗機,，最大載荷30kN
ZWICK Z020：微機控制彎曲試驗機，角度測量精度±0.1°
Mettler Toledo XS205：高精度密度天平,，稱量分辨率0.01mg
北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急,。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案,。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。
中析儀器 資質(zhì)
中析刨薄測試 - 由于篇幅有限,，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目，請咨詢在線工程師
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