偏振光分析測試摘要:偏振光分析測試是一種通過檢測材料對偏振光的調(diào)制特性,,評估其光學(xué)性能的專業(yè)技術(shù),。核心檢測項(xiàng)目包括偏振度、消光比,、相位延遲等參數(shù),,適用于光學(xué)薄膜,、液晶顯示器件、光纖通信材料等領(lǐng)域,。測試遵循ASTM,、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn),采用分光偏振計(jì),、橢偏儀等精密設(shè)備,,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
偏振度(DoP):測量范圍0~1,,分辨率±0.005
消光比(ER):測試范圍20~60dB,精度±0.2dB
相位延遲量:檢測范圍0~360°,,重復(fù)性±0.1°
斯托克斯參數(shù):S0~S3全參數(shù)測量,,波長范圍380~2500nm
雙折射率:測量靈敏度Δn≥1×10-6
光學(xué)薄膜:增透膜、反射膜、偏振分光膜
液晶材料:TN/VA/IPS型液晶盒
光纖器件:保偏光纖,、光纖環(huán)行器
晶體材料:石英,、方解石、鈮酸鋰晶體
顯示面板:LCD,、OLED偏振片組件
ASTM D1003-21:透明塑料光學(xué)特性測試
ISO 13653:2019:光學(xué)系統(tǒng)偏振特性測量
GB/T 26827-2011:液晶顯示器件光電參數(shù)測試
GB/T 18901.2-2013:光纖器件偏振特性檢測
ISO 10110-18:2019:光學(xué)元件偏振敏感度測試
JASCO V-770分光偏振計(jì):波長范圍190~2700nm,,支持穆勒矩陣測量
Thorlabs PAX1000偏振分析儀:1.5μm波段,消光比測量精度±0.05dB
Hinds PEM-100光彈調(diào)制系統(tǒng):相位延遲測量分辨率0.001λ
Agilent 8509C偏振光分析儀:50MHz~40GHz微波頻段測試
Sentech SE800光譜橢偏儀:0.75~6.5eV光子能量范圍
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析偏振光分析測試 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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