光波導檢測
光波導檢測摘要：光波導檢測是評估光波導器件性能與可靠性的關鍵流程，涵蓋傳輸損耗,、幾何精度、材料特性等核心指標,。檢測需依據(jù)國際及國家標準，結合精密儀器對插入損耗,、回波損耗,、偏振特性等參數(shù)進行量化分析，適用于石英,、聚合物,、硅基等多種材料的光波導產(chǎn)品，確保其在通信,、傳感等領域的應用穩(wěn)定性,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
插入損耗：波長范圍1260-1650nm，典型值≤0.5dB
回波損耗：單模光纖接口≥50dB,，多?！?5dB
偏振相關損耗（PDL）：C波段≤0.2dB
3dB帶寬：多模波導≥20GHz·km
模式場直徑：單模波導9.2±0.4μm@1310nm
檢測范圍
石英基平面光波導（PLC）
聚合物光波導陣列
硅基光子集成波導
光纖-波導耦合器件
鈮酸鋰調(diào)制器波導
檢測方法
插入損耗測試：ASTM E1683-02(2020),，GB/T 18311.3-2018
回波損耗測量：IEC 61300-3-6:2020,，GB/T 15972.42-2021
偏振特性分析：TIA-455-219-A，YD/T 2289.2-2020
幾何參數(shù)檢測：ISO 10110-7:2017,，GB/T 7247.13-2018
環(huán)境可靠性測試：Telcordia GR-1209-CORE,，GB/T 2423.22-2012
檢測設備
Agilent 8163B光波導分析系統(tǒng)：0.001dB分辨率，支持128通道同步測試
EXFO FTB-5240光譜分析儀：波長精度±10pm,，動態(tài)范圍70dB
Newport AutoAlign PRO：亞微米級耦合對準系統(tǒng)
Keysight N7788B偏振控制器：掃描速率1000rad/s
Olympus LEXT OLS5000激光顯微鏡：120nm橫向分辨率
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急,。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案,。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務。
中析儀器 資質(zhì)
中析光波導檢測 - 由于篇幅有限,，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目，請咨詢在線工程師
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