參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

晶格常數(shù)測(cè)定：a軸（5-15?）,、b軸（5-12?）、c軸（5-10?）,、β角（90°-120°）

晶面間距分析：（hkl）晶面間距測(cè)量（0.5-5.0nm）及相對(duì)誤差控制（≤0.1%）

晶體取向測(cè)定：取向偏差角（≤2°）及織構(gòu)系數(shù)（0.9-1.1）

熱膨脹系數(shù)檢測(cè)：α_a/α_b/α_c軸向系數(shù)（1×10^-6-30×10^-6 K^-1）

晶體缺陷分析：位錯(cuò)密度（10⁴-10⁸ cm^-2）,、層錯(cuò)能（10-200 mJ/m²）

檢測(cè)范圍

金屬合金：航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片用鎳基高溫合金、鈦鋁合金結(jié)構(gòu)件

陶瓷材料：氧化鋯基固體電解質(zhì),、壓電陶瓷元件

半導(dǎo)體材料：碲化鉍熱電材料,、磷化銦襯底

高分子材料：液晶聚合物（LCP）薄膜、聚醚醚酮（PEEK）注塑件

礦物樣品：?jiǎn)涡陛x石族礦物,、石膏晶體標(biāo)本

檢測(cè)方法

X射線衍射法：ASTM E112-13,、GB/T 13298-2015

電子背散射衍射：ISO 24173:2009、GB/T 38885-2020

中子衍射分析：ISO 21484:2017

透射電子顯微鏡：ASTM E3060-16,、GB/T 27788-2020

同步輻射技術(shù)：ISO 18279:2022

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Rigaku SmartLab（2θ范圍：3°-160°,，分辨率：0.0001°）

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：FEI Nova NanoSEM 450（分辨率：1.0nm@15kV）

電子背散射衍射系統(tǒng)：Oxford Instruments Symmetry（角分辨率：0.5°）

高溫XRD附件：Anton Paar HTK1200N（溫度范圍：-190°C-1200°C）

熱膨脹儀：Netzsch DIL 402 Expedis（位移分辨率：0.125nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)