參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

氧化物類(lèi)型鑒定（EDS能譜分析,，XRD物相識(shí)別）

氧化物含量分析（質(zhì)量百分比0.001%-5.0%）

夾雜物尺寸分布（1μm-500μm范圍分級(jí)統(tǒng)計(jì)）

形貌特征檢測(cè)（三維形貌重構(gòu)，長(zhǎng)徑比0.1-10）

元素分布圖譜（面掃分辨率≤1μm,，元素檢測(cè)范圍B5-U92）

檢測(cè)范圍

金屬合金：不銹鋼,、鋁合金、鈦合金等

陶瓷材料：氧化鋁,、氮化硅,、碳化硅等

電子元件：半導(dǎo)體晶圓、鍵合線,、封裝材料

玻璃制品：光學(xué)玻璃,、特種玻璃基板

復(fù)合材料：金屬基/陶瓷基復(fù)合材料

檢測(cè)方法

ASTM E2142-2021《金屬材料夾雜物評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)方法》

ISO 4967:2019《鋼中非金屬夾雜物顯微檢測(cè)法》

GB/T 10561-2005《鋼中非金屬夾雜物含量的測(cè)定》

ASTM E1245-2020《自動(dòng)圖像分析測(cè)定夾雜物含量》

GB/T 18876.2-2006《金屬材料定量金相測(cè)定法》

檢測(cè)設(shè)備

蔡司Sigma 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（5nm分辨率，EDS探測(cè)器）

布魯克D8 Advance X射線衍射儀（2θ角精度±0.0001°）

牛津儀器Ultim Max 170能譜儀（100mm2探測(cè)面積）

馬爾文Mastersizer 3000粒度分析儀（0.01-3500μm量程）

萊卡DM2700M金相顯微鏡（2000×光學(xué)放大,，自動(dòng)載物臺(tái)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)