參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

鐵損值（P1.5/50）：0.8-3.5 W/kg（50Hz,，1.5T磁通密度）

磁極化強(qiáng)度（B50）：1.70-1.92 T（磁場強(qiáng)度5000 A/m）

疊裝系數(shù)：≥96%（壓力0.98MPa下測(cè)量）

厚度偏差：±0.005mm（激光測(cè)厚儀檢測(cè)）

絕緣涂層電阻：≥50 Ω·cm2（DC 100V測(cè)試）

檢測(cè)范圍

冷軋取向硅鋼（CGO）：牌號(hào)30Q130-27Q095

高磁感取向硅鋼（HiB）：B30P105-B23P075

薄帶硅鋼：厚度0.18-0.30mm特種材料

半工藝無取向硅鋼：DW800-50至DW1350-35

絕緣涂層硅鋼：C-4,、C-6、T-4涂層類型

檢測(cè)方法

ASTM A912：取向硅鋼片磁性能標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

IEC 60404-8-7：單片測(cè)量磁極化特性方法

GB/T 2521：冷軋晶粒取向硅鋼帶標(biāo)準(zhǔn)

ISO 404：疊裝系數(shù)壓力加載測(cè)試規(guī)范

GB/T 3655：愛潑斯坦方圈法測(cè)定鐵損

檢測(cè)設(shè)備

愛潑斯坦方圈系統(tǒng)（Epstein Frame 2600）：磁性能參數(shù)全自動(dòng)測(cè)量

三維磁特性測(cè)試儀（Matsusada PMF-3000）：B-H曲線精確測(cè)繪

激光測(cè)厚儀（Mitutoyo Litematic VL-50）：0.1μm分辨率在線檢測(cè)

X射線衍射儀（Rigaku SmartLab）：晶粒取向度定量分析

絕緣電阻測(cè)試儀（HIOKI IR4056）：涂層耐壓0-1000V可調(diào)測(cè)試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)