低鹵化物檢測(cè)摘要:低鹵化物檢測(cè)是評(píng)估材料中鹵素化合物含量的關(guān)鍵環(huán)節(jié),,涉及電子元件、高分子材料等領(lǐng)域,。檢測(cè)涵蓋總鹵素,、氟、氯,、溴,、碘等指標(biāo),需依據(jù)ASTM,、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn),,采用離子色譜、X射線熒光光譜等技術(shù),,確保產(chǎn)品符合環(huán)保及安全規(guī)范,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
總鹵素含量(檢測(cè)限:5-1000 ppm)
氟化物含量(檢測(cè)范圍:0.1-500 mg/kg)
氯化物含量(檢測(cè)精度:±0.5%)
溴化物含量(定量限:10-2000 ppm)
碘化物含量(檢測(cè)誤差:≤3%)
電子元器件(PCB基板,、焊料)
高分子材料(PVC、EPDM橡膠)
工業(yè)涂料(環(huán)氧樹脂涂層,、防火涂料)
電線電纜(絕緣層,、護(hù)套材料)
包裝材料(食品級(jí)塑料薄膜、紙質(zhì)復(fù)合材料)
ASTM D7359:氧彈燃燒-離子色譜法測(cè)總鹵素
ISO 21644:高溫水解-分光光度法測(cè)氟化物
GB/T 9872:庫侖滴定法測(cè)氯化物
IEC 61189-5:X射線熒光光譜法測(cè)溴/碘
GB/T 33345:微波消解-電感耦合等離子體質(zhì)譜法
Thermo Fisher ICS-6000離子色譜儀(離子分離定量)
Shimadzu EDX-7000 X射線熒光光譜儀(元素?zé)o損分析)
Milestone ETHOS UP微波消解系統(tǒng)(樣品前處理)
Metrohm 905 Titrando庫侖滴定儀(微量氯檢測(cè))
PerkinElmer NexION 350D ICP-MS(痕量鹵素分析)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析低鹵化物檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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