參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

殘余應(yīng)力分布：測(cè)量深度0.05-2mm,，空間分辨率≤50μm

動(dòng)態(tài)應(yīng)力監(jiān)測(cè)：頻率范圍0.1Hz-20kHz,，精度±2MPa

熱應(yīng)力梯度分析：溫度范圍-196℃~1200℃,，分辨率±0.5℃

表面應(yīng)力集中系數(shù)：Kt值計(jì)算誤差≤3%

疲勞應(yīng)力譜采集：循環(huán)次數(shù)10^3-10^7次,，數(shù)據(jù)采樣率≥100kHz

檢測(cè)范圍

金屬材料：鈦合金/高溫合金/鋁合金構(gòu)件

復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物/陶瓷基復(fù)合材料

陶瓷材料：氧化鋯/氮化硅結(jié)構(gòu)件

高分子材料：工程塑料/橡膠密封件

電子元器件：芯片封裝體/PCB基板

檢測(cè)方法

X射線衍射法：ASTM E837/GB/T 24179

激光散斑干涉法：ISO 21438/GB/T 34510

數(shù)字圖像相關(guān)法：ASTM E2448/GB/T 38811

超聲表面波法：ISO 19219/GB/T 39432

磁彈性法：ASTM A1033/GB/T 33164

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Proto iXRD（殘余應(yīng)力三維測(cè)繪）

激光散斑儀：Lasertec LSD-3000（全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量）

高速熱像系統(tǒng)：FLIR X8580（熱-力耦合分析）

超聲表面波設(shè)備：Olympus EPOCH 650（亞表面缺陷關(guān)聯(lián)分析）

磁彈性傳感器組：Stresstech XStress（鐵磁材料應(yīng)力成像）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)