鏡頭面型檢測
鏡頭面型檢測摘要：鏡頭面型檢測是光學(xué)元件質(zhì)量控制的核心環(huán)節(jié),，主要針對曲率半徑,、面形偏差、局部缺陷等關(guān)鍵參數(shù)進行精密測量,。通過高精度干涉儀與輪廓儀等設(shè)備結(jié)合國際標準方法，確保鏡頭在成像精度,、光軸一致性及環(huán)境適應(yīng)性方面滿足工業(yè)級應(yīng)用需求,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
檢測項目
曲率半徑偏差：±0.05% @632.8nm波長基準
面形偏差PV值：≤λ/4（λ=632.8nm）
局部斜率誤差：＜0.5μrad RMS
非球面系數(shù)偏離度：Δk≤1×10??
邊緣塌邊量：≤3μm@有效孔徑95%區(qū)域
檢測范圍
光學(xué)玻璃材質(zhì)球面/非球面透鏡
樹脂模壓非球面鏡片
紅外硫系玻璃透鏡
微透鏡陣列（MLA）器件
自由曲面醫(yī)用內(nèi)窺鏡物鏡
檢測方法
ASTM E903-20：光學(xué)元件表面質(zhì)量干涉測量規(guī)范
ISO 10110-5:2015：光學(xué)元件面形公差標注規(guī)范
GB/T 2831-2021：光學(xué)零件面形偏差測試方法
ISO 14997:2012：光學(xué)表面缺陷定量評估標準
GB/T 7661-2009：光學(xué)零件曲率半徑測量方法
檢測設(shè)備
Zygo Verifire MST+激光干涉儀：波長632.8nm,，分辨率0.1nm PV值測量
Taylor Hobson PGI 3D輪廓儀：Z軸分辨率0.8nm的非接觸式三維形貌分析
Trioptics OptiCentric雙光路中心偏測量系統(tǒng)：角度精度±15"的光軸一致性檢測
Mitutoyo CMM-Crysta Apex S坐標測量機：空間精度(1.9+L/250)μm的幾何參數(shù)測定
4D Technology PhaseCam干涉儀：動態(tài)范圍±150μm的高速瞬態(tài)面形捕捉
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急,。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案,。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。
中析儀器 資質(zhì)
中析鏡頭面型檢測 - 由于篇幅有限,，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目，請咨詢在線工程師
相關(guān)檢測
聯(lián)系我們
熱門檢測
30389
-
化學(xué)檢測
2024-08-24
-
汽車漆面檢測
2024-08-24
-
礦石檢測
2024-08-24
-
調(diào)料配方分析
2024-08-24
-
農(nóng)藥檢測
2024-08-24
-
朱砂檢測
2021-03-15
-
硅碳棒檢測
2023-06-28
