自由空間法測介電常數(shù)檢測摘要:自由空間法測介電常數(shù)是一種非接觸式微波測量技術(shù),適用于高頻段(1-40GHz)下材料電磁特性的精確分析,。核心檢測參數(shù)包括復(fù)介電常數(shù)實(shí)部(ε')與虛部(ε'')、損耗角正切(tanδ)及頻率響應(yīng)特性,。該方法需嚴(yán)格校準(zhǔn)系統(tǒng)誤差并控制環(huán)境溫濕度,,確保數(shù)據(jù)重復(fù)性誤差≤3%,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
復(fù)介電常數(shù)實(shí)部(ε'):測量范圍1.0-50.0
復(fù)介電常數(shù)虛部(ε''):分辨率0.001
損耗角正切(tanδ):精度±0.0005
頻率響應(yīng)特性:1-40 GHz連續(xù)掃頻
溫度依賴性:-40℃至+150℃溫控測試
材料厚度影響:0.5-20 mm樣品適應(yīng)性
微波吸收材料:鐵氧體/碳基復(fù)合材料
高溫結(jié)構(gòu)陶瓷:氮化硅/碳化硅基板
高分子介質(zhì)薄膜:PTFE/聚酰亞胺基材
雷達(dá)隱身涂層:多層阻抗?jié)u變結(jié)構(gòu)
半導(dǎo)體基板:GaN/SiC晶圓片
ASTM D5568-22:高頻電磁場下材料參數(shù)測量標(biāo)準(zhǔn)
ISO 13421:2015:微波頻段自由空間法實(shí)施規(guī)范
GB/T 12636-2021:微波介質(zhì)特性測量通用要求
GB/T 31845-2015:高溫介質(zhì)材料測試方法
IEC 61189-3-719:2020:印制電路基材介電特性測試
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀:Keysight N5227B(10 MHz-67 GHz)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析自由空間法測介電常數(shù)檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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