參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

鏡面反射率（波長(zhǎng)范圍250-2500nm）

漫反射率（積分球法測(cè)量）

半球發(fā)射率（熱紅外波段8-14μm）

角度依賴性反射率（入射角5°-85°）

溫度穩(wěn)定性測(cè)試（-40℃至300℃）

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜：增透膜,、高反膜,、分光膜

太陽(yáng)能選擇性吸收涂層（Cermet基復(fù)合材料）

金屬鍍膜：鋁、銀,、金納米薄膜

透明導(dǎo)電氧化物薄膜（ITO,、FTO）

航天器熱控涂層（低α/ε比值材料）

檢測(cè)方法

ASTM E903: 材料太陽(yáng)吸收比與半球發(fā)射率測(cè)定

ISO 18434-1: 紅外熱像法發(fā)射率測(cè)量規(guī)范

GB/T 25968-2010: 分光光度法測(cè)量材料太陽(yáng)吸收比

ISO 9050: 建筑玻璃可見(jiàn)光透射比與反射比測(cè)定

GB/T 2680-2021: 建筑玻璃可見(jiàn)光透射比測(cè)試方法

檢測(cè)設(shè)備

PerkinElmer Lambda 1050: 紫外-可見(jiàn)-近紅外分光光度計(jì)（175-3300nm）

TFS Nicolet iS50 FTIR: 傅里葉變換紅外光譜儀（中遠(yuǎn)紅外分析）

SCHMIDT+HAENSCH Goniophotometer GS-8: 高精度變角反射測(cè)量系統(tǒng)

SINKU-RIKO EPA-3000: 真空低溫輻射率測(cè)試裝置（ε=0.02-1.00）

SENTECH SE800 PVCD: 橢偏儀（納米級(jí)膜厚與光學(xué)常數(shù)分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)