光纖波分復(fù)用器檢測
光纖波分復(fù)用器檢測摘要：光纖波分復(fù)用器（WDM）是光通信系統(tǒng)的核心器件之一,，其性能直接影響網(wǎng)絡(luò)傳輸質(zhì)量。本文從專業(yè)檢測角度出發(fā),，系統(tǒng)闡述插入損耗,、通道隔離度等關(guān)鍵參數(shù)的測試要求及方法規(guī)范,。重點覆蓋薄膜濾波型、陣列波導(dǎo)光柵型等主流產(chǎn)品的檢測范圍與執(zhí)行標準,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
插入損耗：單通道典型值≤1.5dB@1550nm
通道隔離度：相鄰?fù)ǖ馈[email protected]間隔
偏振相關(guān)損耗（PDL）：最大值≤0.3dB
回波損耗：輸入/輸出端≥45dB
溫度穩(wěn)定性：-5℃~+70℃范圍內(nèi)損耗變化≤0.5dB
檢測范圍
薄膜濾波型波分復(fù)用器（TFF-WDM）
陣列波導(dǎo)光柵型波分復(fù)用器（AWG-WDM）
光纖布拉格光柵型波分復(fù)用器（FBG-WDM）
熔融拉錐型波分復(fù)用器（FBT-WDM）
自由空間型波分復(fù)用器（FSI-WDM）
檢測方法
插入損耗測試：IEC 61753-1（C類器件）、GB/T 9771.3
通道隔離度測試：Telcordia GR-1221-CORE,、GB/T 15972.40
PDL測試：ASTM E1310-20偏振掃描法
回波損耗測試：ISO/IEC 14763-3 OTDR法
溫度循環(huán)測試：GB/T 2423.22 Nb條件（-40℃~+85℃）
檢測設(shè)備
光譜分析儀：Yokogawa AQ6370D（波長范圍600-1700nm）
可調(diào)諧激光源：Keysight 8164B（波長精度±0.002nm）
光功率計：EXFO PM-1600（動態(tài)范圍+3~-70dBm）
偏振控制器：General Photonics PCD-104（消光比＞30dB）
高低溫試驗箱：ESPEC SH-261（溫控精度±0.5℃）
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急,。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案,。
售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。
中析儀器 資質(zhì)
中析光纖波分復(fù)用器檢測 - 由于篇幅有限,，僅展示部分項目，如需咨詢詳細檢測項目,，請咨詢在線工程師
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