參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

主成分分析：Nb?O?（30-80%）,、Ta?O?（10-60%）、CaO（0.5-5%）

微量元素檢測(cè)：Fe（≤3%）,、Mn（≤0.5%）,、Ti（≤1.2%）

物相分析：X射線衍射（XRD）晶體結(jié)構(gòu)表征

物理性能測(cè)試：密度（4.3-7.9 g/cm3）、莫氏硬度（5.5-6.0）

放射性元素測(cè)定：U（≤50 ppm）,、Th（≤100 ppm）

檢測(cè)范圍

鈮鉭礦石原礦及精礦

冶金級(jí)鈮鐵合金中間產(chǎn)品

電容器級(jí)鉭粉原料

稀土功能材料復(fù)合礦物

尾礦庫(kù)存儲(chǔ)廢渣

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（ASTM E1621-21）

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（GB/T 17417.1-2010）

粉末X射線衍射分析（ISO 20203:2015）

阿基米德密度測(cè)定法（GB/T 1423-1996）

γ能譜放射性檢測(cè)（EJ/T 1212.3-2018）

檢測(cè)設(shè)備

PANalytical Axios mAX波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀（主量元素定量）

Thermo Fisher iCAP RQ電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（痕量元素分析）

Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)解析）

Mettler Toledo XPE205電子密度計(jì)（密度測(cè)定）

ORTEC GammaVision放射性檢測(cè)系統(tǒng)（鈾釷定量）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)