參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

主成分鎂含量（Mg≥99.95%）

金屬雜質(zhì)元素（Fe≤0.002%,、Al≤0.003%、Cu≤0.001%,、Na≤0.001%）

非金屬雜質(zhì)（O≤50ppm,、S≤20ppm、C≤30ppm）

氣體元素（H≤5ppm,、N≤15ppm）

物理性能（密度1.738±0.003g/cm3,、維氏硬度HV30-40）

檢測范圍

電解法生產(chǎn)的鎂錠（純度≥99.95%）

航空航天用鎂合金原料

電子級高純鎂蒸發(fā)材料

核工業(yè)用鎂包殼材料

真空鍍膜用鎂靶材（3N5級以上）

檢測方法

ICP-AES法（ASTM E1479-16）測定金屬雜質(zhì)

GD-MS法（ISO 22036:2008）分析痕量元素

惰性熔融紅外法（GB/T 223.82-2018）測定氧含量

脈沖加熱氣相色譜法（ASTM E1447-22）檢測氫、氮

XRF法（GB/T 13748.21-2021）快速篩查主成分

檢測設(shè)備

Thermo Scientific iCAP 7400電感耦合等離子體光譜儀（0.001ppm檢出限）

Nu Instruments Astrum GD-MS輝光放電質(zhì)譜儀（ppb級元素分析）

LECO ONH836氧氮?dú)浞治鰞x（0.1ppm分辨率）

Rigaku ZSX Primus IV X射線熒光光譜儀（0.01%檢測精度）

Mettler Toledo XP204精密天平（0.01mg稱量精度）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)