參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

電暈起始電壓測(cè)量：20-1000 kV范圍

放電強(qiáng)度分析：0.1-1000 pC精度

放電頻率監(jiān)測(cè)：50 Hz-10 MHz頻段

表面電場(chǎng)分布測(cè)繪：分辨率≤1 kV/mm

局部溫升測(cè)試：±0.5℃測(cè)溫精度

檢測(cè)范圍

高壓絕緣子（陶瓷/玻璃/復(fù)合材質(zhì)）

電纜終端及中間接頭組件

變壓器套管與GIS殼體

環(huán)氧樹脂澆注件及硅橡膠制品

高壓電極與均壓環(huán)組件

檢測(cè)方法

ASTM D1868-2021《紫外成像法電暈檢測(cè)規(guī)程》

ISO 21216:2019《光電倍增管法局部放電光輻射測(cè)量》

GB/T 7354-2018《局部放電測(cè)量》脈沖電流法

GB 16927.1-2011《高電壓試驗(yàn)技術(shù)》工頻電壓試驗(yàn)規(guī)范

IEC 60270:2000《局部放電測(cè)量》電氣檢測(cè)法

檢測(cè)設(shè)備

PDCheck-II型局部放電檢測(cè)儀：支持0.1pC分辨率脈沖電流測(cè)量

UVi-Scope Pro紫外成像系統(tǒng)：配備日盲型CCD傳感器（240-280nm波段）

Tektronix MDO3104混合域示波器：支持10MHz帶寬放電波形分析

FLIR A8580紅外熱像儀：集成±0.5℃精度的溫場(chǎng)監(jiān)測(cè)模塊

Hipotronics ACW-1000工頻試驗(yàn)裝置：輸出0-1000kV可調(diào)交流電壓源

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)