差頻相位延遲檢測
差頻相位延遲檢測摘要：差頻相位延遲檢測是評估高頻信號傳輸系統(tǒng)中相位一致性的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),。本文重點闡述該檢測的核心參數(shù)（包括頻率范圍,、相位精度,、溫度漂移等）,、適用材料類型（如微波介質(zhì)基板、光纖器件等）,、符合ASTM/ISO/GB標(biāo)準(zhǔn)的測試方法體系以及高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等核心設(shè)備的選型依據(jù),。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
檢測項目
相位延遲量：測量范圍±180°,，分辨率≤0.1°
頻率響應(yīng)特性：測試帶寬10MHz-40GHz
溫度穩(wěn)定性：-55℃~+125℃溫變條件下的相位偏移量
群時延波動：時延精度±5ps@1GHz基準(zhǔn)頻率
諧波失真度：二次諧波抑制比≥30dBc
檢測范圍
微波介質(zhì)基板（RO4003C,、Taconic RF-35等）
光纖延遲線（單模/保偏光纖組件）
射頻同軸電纜（SMA/BNC接口型）
液晶顯示模塊（TFT-LCD驅(qū)動單元）
雷達天線陣列（相控陣單元校準(zhǔn)）
檢測方法
ASTM E2109-20：射頻組件群時延測量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
ISO 11540:2021：光纖通信系統(tǒng)相位噪聲測試方法
GB/T 15532-2008：數(shù)字通信設(shè)備傳輸時延測試規(guī)范
GB 11461-2013：微波元件相位一致性測量技術(shù)要求
SJ 20882-2018：相控陣天線單元校準(zhǔn)測試方法
檢測設(shè)備
Keysight N5224B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：支持10MHz-43.5GHz頻段，時域反射測量功能
Tektronix RSA5126B實時頻譜分析儀：26.5GHz帶寬,，相位噪聲基底-148dBc/Hz@10kHz偏移
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日,，可加急。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。
中析儀器 資質(zhì)
中析差頻相位延遲檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細(xì)檢測項目,，請咨詢在線工程師
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