參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 壁厚均勻性檢測(cè)：測(cè)量喉部區(qū)域壁厚公差±0.05mm

2. 表面裂紋探傷：識(shí)別深度≥0.1mm的線性缺陷

3. 高溫蠕變測(cè)試：在1200℃環(huán)境下保持500小時(shí)變形量≤0.2%

4. 密封壓力試驗(yàn)：驗(yàn)證35MPa氦氣環(huán)境下的泄漏率＜1×10?? Pa·m3/s

5. 涂層結(jié)合強(qiáng)度：熱障涂層附著力≥50MPa（ASTM C633）

檢測(cè)范圍

1. 鎳基高溫合金噴管（GH4169/Rene41）

2. 碳/碳化硅陶瓷基復(fù)合材料噴管

3. 銅鉻鋯合金內(nèi)襯冷卻通道

4. 鈦合金擴(kuò)張段組件（Ti-6Al-4V）

5. 鎢滲銅燒蝕防護(hù)層

檢測(cè)方法

1. 相控陣超聲檢測(cè)：依據(jù)ISO 19675進(jìn)行分層缺陷掃描

2. 工業(yè)CT掃描：執(zhí)行GB/T 29070標(biāo)準(zhǔn)的孔隙率分析

3. 高溫氧化試驗(yàn)：按ASTM G54程序評(píng)估抗氧化性能

4. 三維激光掃描：基于ASME B89.4.22進(jìn)行型面輪廓度測(cè)量

5. 殘余應(yīng)力測(cè)試：采用GB/T 24179的X射線衍射法

檢測(cè)設(shè)備

1. Olympus Omniscan MX2超聲探傷儀：支持64陣元相控陣探頭

2. YXLON FF35 CT系統(tǒng)：具備450kV微焦點(diǎn)射線源

3. Instron 8862高溫試驗(yàn)機(jī)：溫度范圍RT~1600℃

4. GOM ATOS Q三維掃描儀：測(cè)量精度±15μm/m3

5. Thermo Fisher ARL EQUINOX 100 X射線衍射儀

6. Agilent 490 Micro GC：用于密封性泄漏氣體分析

7. Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍表面形貌觀測(cè)

8. Zwick Roell HB100硬度計(jì)：滿足HV0.01~HV30標(biāo)尺

9. FLIR A8300sc紅外熱像儀：溫度分辨率0.03℃@30Hz

10. Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率0.1nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)