薄膜電極檢測(cè)摘要:薄膜電極檢測(cè)是評(píng)估其物理、化學(xué)及電化學(xué)性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié),,涉及厚度均勻性,、導(dǎo)電性、附著力等核心指標(biāo),。本文系統(tǒng)闡述薄膜電極的主要檢測(cè)項(xiàng)目,、適用材料范圍,、標(biāo)準(zhǔn)化方法及專(zhuān)用設(shè)備配置,,為質(zhì)量控制提供技術(shù)依據(jù)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
厚度測(cè)量:10-200μm范圍,,精度±0.5μm
表面電阻:0.1-1000Ω/sq(方塊電阻)
附著力測(cè)試:≥3B等級(jí)(ASTM D3359標(biāo)準(zhǔn))
孔隙率分析:孔徑分布0.01-10μm
電化學(xué)阻抗譜:頻率范圍10μHz-1MHz
元素成分分析:EDS檢測(cè)精度≥0.1at%
熱穩(wěn)定性測(cè)試:-40℃~300℃溫度循環(huán)
鋰離子電池正/負(fù)極薄膜電極
燃料電池催化劑涂層電極
柔性電子器件透明導(dǎo)電薄膜
超級(jí)電容器納米多孔電極
光伏器件功能層薄膜電極
傳感器敏感膜電極
ASTM B244:非磁性基體金屬鍍層測(cè)厚法
ISO 2178:非導(dǎo)電基體金屬鍍層測(cè)厚法
GB/T 2792:壓敏膠粘帶剝離強(qiáng)度試驗(yàn)
IEC 62660-3:動(dòng)力電池電極性能測(cè)試
ASTM E252:薄膜厚度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法
GB/T 1771:色漆和清漆耐中性鹽霧測(cè)試
ISO 16773:電化學(xué)阻抗譜測(cè)試規(guī)范
Mitutoyo Litematic VL-50:非接觸式激光測(cè)厚儀(分辨率0.01μm)
Four-Point Probe System MCP-T610:表面電阻測(cè)試儀(量程0.001Ω-10MΩ)
Instron 5944萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī):附著力測(cè)試(最大載荷5kN)
Micromeritics AutoPore V9600:壓汞法孔隙率分析儀(孔徑3nm-360μm)
BioLogic VMP-300:多通道電化學(xué)工作站(電流分辨率1pA)
TESCAN MIRA4:場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(分辨率1nm@15kV)
Netzsch STA 449 F5:同步熱分析儀(TG-DSC同步測(cè)量)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析薄膜電極檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢(xún)?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€工程師
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