多片微型電路檢測摘要:多片微型電路檢測是保障電子元器件可靠性的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié),,涵蓋電氣性能,、結(jié)構(gòu)完整性及材料可靠性等多維度分析。核心檢測要點包括導(dǎo)通特性,、絕緣耐壓,、焊點強度、熱穩(wěn)定性及信號完整性驗證,,適用于高密度集成電路板,、柔性基板等精密電子組件質(zhì)量控制。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1.導(dǎo)通電阻測試:測量范圍0.1mΩ-10kΩ,,精度±0.5%
2.絕緣耐壓測試:AC500V-5kV/DC1kV-10kV,漏電流閾值≤10μA
3.焊點剪切強度測試:測試力值0.1N-500N,,分辨率0.01N
4.熱循環(huán)沖擊試驗:溫度范圍-65℃~+150℃,,轉(zhuǎn)換時間≤30s
5.信號完整性分析:帶寬20GHz,上升時間≤17.5ps
1.柔性印刷電路板(FPC):聚酰亞胺基材厚度25-150μm
2.高密度互連板(HDI):線寬/線距40/40μm級微細線路
3.陶瓷基電路板:氧化鋁/氮化鋁基板熱導(dǎo)率24-170W/m·K
4.芯片封裝基板:BGA/CSP封裝球徑200-760μm
5.多層復(fù)合基板:層間介質(zhì)厚度15-100μm介電常數(shù)3.5-4.5
1.ASTMB533-2018覆銅層剝離強度測試方法
2.IPC-TM-6502.6.3D熱應(yīng)力分層試驗標(biāo)準(zhǔn)
3.GB/T4677-2017印制板濕熱環(huán)境試驗規(guī)范
4.IEC61189-3-2017電子材料互連電阻測試
5.JESD22-A104F溫度循環(huán)加速老化試驗標(biāo)準(zhǔn)
1.KeysightB1505A功率器件分析儀:支持1000A脈沖電流測試
2.HiokiIM3590化學(xué)阻抗分析儀:頻率范圍4Hz-8MHz
3.NordsonDAGE4000焊接強度測試儀:XYZ軸定位精度±1μm
4.ESPECTAS-264熱沖擊試驗箱:溫變速率60℃/min
5.OLYMPUSLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡:12000×超景深觀測
6.AgilentInfiniiumUXR1104A示波器:110GHz實時帶寬
7.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM:5nm分辨率斷面分析
8.CyberOpticsSQ3000三維光學(xué)檢測系統(tǒng):10μm共面度測量精度
9.PVATePlaHDPV200等離子清洗機:處理面積φ300mm晶圓級樣品
10.Chroma19032耐壓測試儀:輸出功率500VA安全防護等級
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析多片微型電路檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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