參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主成分含量測(cè)定：二氧化鈀（PdO?）純度≥99.5%，氨啦啶基配體占比0.8-1.2mol%

2.粒徑分布分析：D50值控制在50-200nm范圍，D90/D10≤3.0

3.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD特征峰匹配PDF#43-1024標(biāo)準(zhǔn)卡片

4.比表面積測(cè)試：BET法測(cè)定值15-35m2/g

5.重金屬雜質(zhì)限量：鉛（Pb）≤50ppm,、鎘（Cd）≤20ppm

檢測(cè)范圍

1.貴金屬催化劑：氫化反應(yīng)催化劑,、燃料電池電極材料

2.電子元器件：MLCC介質(zhì)材料、半導(dǎo)體鍍膜前驅(qū)體

3.醫(yī)藥中間體：手性合成催化劑載體

4.環(huán)保材料：VOCs催化降解材料

5.化工原料：有機(jī)合成用氧化劑原料

檢測(cè)方法

1.ASTME2857-19《電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定貴金屬含量》

2.ISO18757:2003《細(xì)陶瓷粉末比表面積的BET法測(cè)定》

3.GB/T23413-2009《納米材料粒度分布測(cè)定X射線小角散射法》

4.GB/T19587-2017《氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積》

5.ISO20289:2018《X射線衍射法測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)》

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：配備HyPix-3000探測(cè)器,，角度精度±0.0001°

2.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

3.MicromeriticsASAP2460比表面分析儀：孔徑分析范圍3.5-5000?

4.Agilent7900ICP-MS：檢出限達(dá)ppt級(jí)重金屬分析

5.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：分辨率0.8nm@15kV形貌觀測(cè)

6.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用精度±0.1μg

7.BrukerS8TIGER波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀：元素分析范圍Be-U

8.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度計(jì)：波長(zhǎng)范圍185-3300nm

9.Metrohm905Titrando電位滴定儀：分辨率0.001mL滴定精度

10.MettlerToledoXPR6U微量天平：稱量精度0.001mg

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)