等效突變型折射率差檢測摘要:等效突變型折射率差檢測是評估光學材料及器件性能的關(guān)鍵技術(shù)之一,,主要用于分析材料內(nèi)部折射率分布的均勻性與突變特性。核心檢測參數(shù)包括折射率偏差值,、溫度穩(wěn)定性及波長響應范圍等,,適用于光學玻璃、光纖預制棒及功能性涂層材料的質(zhì)量控制與研發(fā)驗證。本檢測遵循ASTM、ISO及GB/T標準方法,,確保數(shù)據(jù)準確性與可追溯性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1.等效折射率偏差值:測量范圍[email protected]波長
2.溫度穩(wěn)定性系數(shù):測試區(qū)間-40℃~120℃,精度0.0001/℃
3.波長響應離散度:覆蓋400-1600nm光譜范圍
4.軸向分布均勻性:分辨率達0.1μm/點
5.界面突變梯度值:最大可測梯度Δn=0.05/μm
1.光學玻璃基板(透鏡/棱鏡毛坯)
2.聚合物光學薄膜(AR/IR濾光膜)
3.非線性晶體材料(LiNbO?/KTP晶體)
4.光纖預制棒芯層結(jié)構(gòu)
5.納米功能涂層(防反射/高反射鍍層)
1.ASTMD542-14《透明塑料折射率測試標準》
2.ISO14782-2016《塑料霧度與透光率測定》
3.GB/T7962.20-2010《無色光學玻璃測試方法第20部分:折射率》
4.ISO10110-5:2015《光學元件表面缺陷公差》
5.GB/T18311.3-2001《纖維光學器件基本試驗第3部分:折射率分布測量》
1.J.A.WoollamM-2000UI全自動橢偏儀:支持190-1700nm寬譜薄膜分析
2.ZygoVerifireXP-D激光干涉儀:λ/1000表面形貌分辨率
3.AgilentCary7000全能型分光光度計:5~75入射角調(diào)節(jié)精度
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡:120nm縱向分辨率
5.EXFONR-9200光纖折射率分析儀:單模/多模光纖專用測試
6.MalvernPanalyticalX'PertMRD高分辨X射線衍射儀
7.HoribaLabRAMHREvolution顯微拉曼光譜儀
8.BrukerContourGT-K光學輪廓儀
9.ThorlabsPM320E偏振敏感功率計
10.KeysightN5227APNA網(wǎng)絡分析儀(毫米波頻段)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務,。
中析等效突變型折射率差檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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