參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.游離二氧化硅含量測(cè)定：采用XRD法測(cè)定α-石英含量（0.1%-100%范圍）

2.多晶型分析：鑒別α-石英/方石英/鱗石英比例（檢出限0.5%）

3.粒徑分布測(cè)試：激光衍射法測(cè)量D10/D50/D90值（0.1-3500μm量程）

4.晶體結(jié)構(gòu)表征：Rietveld全譜擬合分析晶胞參數(shù)（精度0.001）

5.表面吸附物測(cè)定：熱重分析儀測(cè)定結(jié)合水/有機(jī)物含量（0.01mg分辨率）

檢測(cè)范圍

1.建筑材料：人造石英石,、陶瓷釉料、耐火磚等

2.工業(yè)粉塵：鑄造砂,、玻璃制造原料,、噴砂磨料

3.納米材料：氣相法白炭黑,、硅基復(fù)合材料

4.電子材料：?jiǎn)尉Ч杵⒐夥M件封裝材料

5.防護(hù)用品：防塵口罩過(guò)濾效率驗(yàn)證樣品

檢測(cè)方法

ASTMD6059-2018《工作場(chǎng)所空氣中結(jié)晶二氧化硅的紅外光譜測(cè)定法》

ISO16258-2015《工作場(chǎng)所空氣-XRD法測(cè)定可吸入結(jié)晶二氧化硅》

GBZ/T300.33-2017《工作場(chǎng)所空氣有毒物質(zhì)測(cè)定-第33部分：結(jié)晶型二氧化硅》

GB/T23263-2009《制品中石英含量的測(cè)定方法》

NIOSHManualofAnalyticalMethods7500（XRD定量分析法）

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線衍射儀：RigakuSmartLab9kW,，配備PDF-4+數(shù)據(jù)庫(kù)

2.傅里葉紅外光譜儀：ThermoScientificNicoletiS50,，4cm?分辨率

3.激光粒度分析儀：MalvernMastersizer3000（干濕兩用模塊）

4.熱重分析儀：PerkinElmerTGA8000（最高1000℃控溫精度）

5.掃描電鏡-能譜聯(lián)用系統(tǒng)：HitachiSU5000+OxfordX-MaxN80

6.微波消解儀：CEMMARS6（支持HF酸密閉消解）

7.X熒光光譜儀：ShimadzuEDX-7000（硅元素檢出限10ppm）

8.粉塵采樣器：GilAirPlus（流量誤差≤2%）

9.超聲波分散器：BransonDigitalSonifierSFX550（20kHz可調(diào)振幅）

10.高溫馬弗爐：NaberthermL3/11（最高1100℃程序控溫）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)