參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：測(cè)定Zr、Si元素含量及雜質(zhì)元素（O≤0.5%,、C≤0.3%,、Fe≤0.1%）

2.物相分析：XRD測(cè)定晶型結(jié)構(gòu)（2θ掃描范圍10-90，步長(zhǎng)0.02）

3.顯微結(jié)構(gòu)表征：SEM觀測(cè)晶粒尺寸（分辨率≤3nm）,、孔隙率（≤1%）

4.力學(xué)性能測(cè)試：維氏硬度（HV10≥1800）,、斷裂韌性（KIC≥4.5MPam/）

5.熱學(xué)性能測(cè)試：熱膨脹系數(shù)（RT-1000℃,6.810??/K）、導(dǎo)熱率（20℃,25W/mK）

檢測(cè)范圍

1.高溫結(jié)構(gòu)陶瓷：ZrSi?-SiC復(fù)合陶瓷

2.金屬基復(fù)合材料：ZrSi?/Al-Si合金體系

3.涂層材料：等離子噴涂ZrSi?熱障涂層

4.電子器件：半導(dǎo)體用ZrSi?薄膜（厚度50-500nm）

5.核工業(yè)材料：中子吸收體ZrSi?燒結(jié)體

檢測(cè)方法

1.ASTME1479-16《金屬及合金化學(xué)分析標(biāo)準(zhǔn)指南》

2.ISO14705:2016《精細(xì)陶瓷室溫硬度試驗(yàn)方法》

3.GB/T16535-2008《X射線衍射定量分析方法》

4.ISO18754:2020《精細(xì)陶瓷密度測(cè)定方法》

5.GB/T4339-2008《金屬材料熱膨脹特性測(cè)定》

檢測(cè)設(shè)備

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)