參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

1.波長精度：測量中心波長偏差值（0.1nm）

2.波前畸變：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm）

3.能量密度均勻性：局部波動≤2%@355nm波段

4.相位穩(wěn)定性：長期漂移量＜λ/50/24h

5.光束發(fā)散角：全角測量精度0.05mrad

檢測范圍

1.光學薄膜：包括增透膜、高反膜等鍍層材料

2.激光晶體：YAG,、KTP等非線性光學晶體

3.半導體晶圓：GaAs,、InP等III-V族化合物基片

4.光纖器件：保偏光纖、光子晶體光纖組件

5.微納光學元件：衍射光柵,、超表面結構器件

檢測方法

ASTME1164-12(2020)光譜波長校準標準方法

ISO10110-5:2015光學元件波前畸變測試規(guī)范

GB/T13752-2021激光光束質量測量方法

ISO11145:2018激光器參數(shù)測試與表征

GB/T26184-2010光學系統(tǒng)雜散光測試方法

檢測設備

1.ZygoVerifireMST干涉儀：波長范圍400-1100nm,，分辨率0.1nm

2.KeysightN7788B光譜分析儀：支持C+L波段高速掃描

3.ThorlabsBP209-IR2光束分析儀：最大功率密度10kW/cm

4.OphirSP928積分球輻射計：測量直徑200mm光束截面

5.Newport1918-R功率計：動態(tài)范圍10nW-3W

6.HamamatsuC13340條紋相機：時間分辨率1ps

7.Agilent8720ES網(wǎng)絡分析儀：頻率范圍20GHz

8.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm

9.OceanInsightFX2000光纖光譜儀：積分時間1ms-10s可調

10.CoherentLaserCheckPro功率探頭：支持紫外到紅外多波段測量

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質