氟碳酸鋇鈰礦檢測摘要:氟碳酸鋇鈰礦檢測需通過多維度分析確保礦物成分與性能符合應(yīng)用要求,。核心檢測項(xiàng)目包括主量元素含量測定、晶體結(jié)構(gòu)表征及雜質(zhì)元素分析等,,需結(jié)合X射線衍射(XRD),、電感耦合等離子體(ICP)等精密儀器完成。本文依據(jù)ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系,,系統(tǒng)闡述檢測流程與關(guān)鍵技術(shù)要點(diǎn),。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.主量元素含量:CeO?(15-25%),、BaO(10-18%),、F?(5-12%)定量分析
2.晶型結(jié)構(gòu)參數(shù):六方晶系空間群P6?/mmc驗(yàn)證,晶胞參數(shù)a=5.12-5.18,、c=24.8-25.3
3.雜質(zhì)元素限值:Fe?O?≤0.5%,、SiO?≤1.2%、Al?O?≤0.8%
4.熱穩(wěn)定性測試:TG-DSC法測定分解溫度(≥850℃)
5.粒度分布:D50值控制在3-10μm區(qū)間
6.放射性核素:U+Th總量≤50ppm
1.稀土精礦選冶中間產(chǎn)物
2.氟碳酸鹽類工業(yè)原料
3.特種陶瓷基材前驅(qū)體
4.催化劑載體材料
5.地質(zhì)勘探巖芯樣本
1.X射線熒光光譜法(GB/T17417.1-2010)測定主量元素
2.Rietveld全譜擬合(ISO20203:2016)解析晶體結(jié)構(gòu)
3.ICP-MS法(ASTMD5673-16)檢測痕量雜質(zhì)元素
4.激光粒度儀法(GB/T19077-2016)分析顆粒分布
5.γ能譜法(GB/T11743-2013)測定放射性活度
1.PANalyticalAxiosMAXX射線熒光光譜儀:波長色散型WDXRF,,元素定量分析精度0.01%
2.RigakuSmartLabX射線衍射儀:9kW旋轉(zhuǎn)陽極光源,,配備HyPix-3000二維探測器
3.PerkinElmerNexION350DICP-MS:三重四極桿設(shè)計(jì),檢出限達(dá)ppt級(jí)
4.NetzschSTA449F5同步熱分析儀:TG-DSC聯(lián)用系統(tǒng),,控溫精度0.1℃
5.MalvernMastersizer3000激光粒度儀:干濕法雙模測量范圍0.01-3500μm
6.CanberraBE6530高純鍺γ譜儀:相對(duì)效率65%,,能量分辨率≤[email protected]
7.ZeissEVOMA15掃描電鏡:配備牛津X-MaxN80能譜儀
8.Agilent7900ICP-OES:垂直炬管雙向觀測系統(tǒng)
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析氟碳酸鋇鈰礦檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
2024-08-24
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