參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.純度測定：主含量≥99.9%（工業(yè)級）/≥99.99%（電子級），采用差減法計算

2.溴含量分析：理論值Br?占比68.720.5%,，電位滴定法測定

3.雜質(zhì)元素控制：Fe≤10ppm,、Cu≤5ppm、Pb≤2ppm（ICP-MS法）

4.水分含量：卡爾費休法測定≤0.05%（質(zhì)量分數(shù)）

5.熱穩(wěn)定性測試：TG-DSC聯(lián)用分析（25-600℃升溫速率10℃/min）

檢測范圍

1.半導體材料：用于InP單晶生長的原料純度驗證

2.有機合成催化劑：催化活性與金屬雜質(zhì)含量的關聯(lián)分析

3.光電材料前驅體：薄膜沉積用高純原料的質(zhì)量控制

4.化學試劑：ACS級/電子級試劑的規(guī)格符合性檢驗

5.醫(yī)藥中間體：合成反應原料的批次一致性驗證

檢測方法

1.GB/T23945-2009《無機化工產(chǎn)品中水分測定通用方法》

2.ASTME3061-17《鹵化物中鹵素含量的標準測試方法》

3.ISO17294-2:2016《水質(zhì)-電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)》

4.GB/T30430-2013《氣相色譜法測定工業(yè)用化學品純度》

5.JISK0067:1992《化學制品熔點及熔融范圍測定方法》

檢測設備

1.Agilent7890B氣相色譜儀：配備FID檢測器,，純度分析精度0.02%

2.Metrohm899Coulometric卡爾費休水分儀：分辨率0.1μgH?O

3.PerkinElmerNexION350DICP-MS：檢出限達ppt級元素分析

4.MettlerToledoTGA/DSC3+熱分析系統(tǒng)：溫度精度0.1℃

5.Metrohm905Titrando電位滴定儀：溴離子測定精度0.05mL

6.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：物相分析角度范圍5-90(2θ)

7.ShimadzuUV-2600i分光光度計：波長范圍185-900nm

8.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：粒徑測量范圍0.01-3500μm

9.SartoriusCubisII超微量天平：稱量精度0.001mg

10.ThermoScientificiCAPRQICP-OES：多元素同步分析系統(tǒng)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)