參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.表面粗糙度：Ra≤0.8nm（局部區(qū)域）,，Rz≤5nm（全域掃描）

2.曲率半徑誤差：0.05%（直徑＞100mm），0.02%（直徑≤100mm）

3.面形精度：PV值≤λ/10（@632.8nm）,，RMS≤λ/50

4.材料均勻性：折射率偏差＜510??（全口徑掃描）

5.透射波前誤差：WFE＜0.15λ（Φ50mm通光孔徑）

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)玻璃：包括熔石英、BK7,、SF11等牌號(hào)的透鏡與棱鏡

2.晶體材料：氟化鈣（CaF?）,、硅（Si）、鍺（Ge）等紅外光學(xué)元件

3.聚合物材料：PMMA,、PC材質(zhì)的非球面鏡片

4.金屬反射鏡：鋁合金,、鈹銅合金基底的離軸拋物面鏡

5.復(fù)合涂層材料：多層介質(zhì)膜/金屬膜的光學(xué)鍍膜元件

檢測(cè)方法

1.ASTME903-20：采用積分球法測(cè)定光譜反射率與透射率

2.ISO10110-5:2015：規(guī)定光學(xué)元件表面缺陷的量化評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)

3.GB/T1800.3-2020：幾何公差標(biāo)注與測(cè)量基準(zhǔn)建立規(guī)范

4.ISO14997:2012：光學(xué)表面缺陷的微分干涉對(duì)比法檢測(cè)

5.GB/T7661-2009：光學(xué)零件面形誤差的斐索干涉測(cè)量法

檢測(cè)設(shè)備

1.ZygoVerifireHDX激光干涉儀：波長(zhǎng)632.8nm，分辨率0.1nm,，最大測(cè)量口徑Φ600mm

2.MitutoyoSURFTESTSJ-410表面粗糙度儀：橫向分辨率0.01μm,，Z軸量程800μm

3.TriopticsOptiSphericIRL紅外干涉儀：工作波段3-12μm，曲率半徑測(cè)量范圍5-5000mm

4.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.01nm,，最大掃描區(qū)域1010mm

5.4DTechnologyPhaseCam6000動(dòng)態(tài)干涉儀：抗振能力＞50Hz,，采樣速率5000幀/秒

6.TaylorHobsonPGI1240輪廓儀：Z軸精度0.75nm，接觸力0.1-50mN可調(diào)

7.SCHOTTK8折射率測(cè)試系統(tǒng)：測(cè)量精度210??,，溫度控制0.01℃

8.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡：橫向分辨率120nm,，Z軸重復(fù)性1nm

9.Keysight5500原子力顯微鏡：掃描范圍9090μm，Z分辨率0.1nm

10.OptoTechASM700非接觸測(cè)厚儀：厚度測(cè)量范圍0-300mm,，精度0.1μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)