參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.平均厚度測(cè)定：測(cè)量精度0.1μm~0.5mm（視材料類型）

2.最小可采厚度驗(yàn)證：閾值范圍0.05mm~5mm（按產(chǎn)品規(guī)范設(shè)定）

3.厚度偏差率計(jì)算：允許波動(dòng)1%~15%（基于GB/T12754標(biāo)準(zhǔn)）

4.層間均勻性指標(biāo)：RSD≤3%（多層復(fù)合材料必檢項(xiàng)）

5.局部腐蝕/磨損深度：分辨率0.001mm（ASTME797規(guī)范）

檢測(cè)范圍

1.金屬板材：冷軋鋼板（0.2-6mm）,、鋁箔（0.006-0.2mm）,、鈦合金板（1-20mm）

2.高分子薄膜：PE保護(hù)膜（10-500μm）、光學(xué)級(jí)PET膜（25-250μm）

3.復(fù)合材料：碳纖維預(yù)浸料（0.1-1.2mm）,、夾層結(jié)構(gòu)板芯材（3-50mm）

4.涂層/鍍層：防腐漆膜（50-300μm）,、硬質(zhì)陽(yáng)極氧化層（5-25μm）

5.玻璃/陶瓷制品：鋼化玻璃（3-19mm）、壓電陶瓷基片（0.1-1mm）

檢測(cè)方法

1.渦流法：依據(jù)ASTMB499標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定非鐵磁性金屬基體上的絕緣涂層厚度

2.β射線反向散射法：按ISO3497實(shí)施貴金屬鍍層厚度測(cè)量（金/銀鍍層）

3.超聲波脈沖回波：遵循GB/T11344進(jìn)行大厚度工件（3-300mm）無(wú)損檢測(cè)

4.X射線熒光光譜法：執(zhí)行GB/T16921測(cè)量多層復(fù)合材料的各單層厚度

5.激光三角反射法：采用ISO25178標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行高反光表面薄膜的在線測(cè)厚

檢測(cè)設(shè)備

1.Olympus38DLPLUS超聲波測(cè)厚儀：量程0.15-500mm,，適用金屬/塑料/陶瓷

2.FischerMP0R渦流測(cè)厚儀：分辨率0.1μm,，專攻微米級(jí)導(dǎo)電涂層測(cè)量

3.MitutoyoLitematicVL-50激光測(cè)厚儀：精度0.05μm，用于光學(xué)薄膜在線監(jiān)測(cè)

4.ThermoScientificNitonXL5XRF分析儀：可穿透10層結(jié)構(gòu)的多元素同步檢測(cè)

5.Elcometer456干膜測(cè)厚儀：符合ISO2808標(biāo)準(zhǔn)的磁性/渦流雙模式儀器

6.KeyenceLS-9000線激光掃描儀：掃描速度5000次/秒的曲面厚度測(cè)量系統(tǒng)

7.BrukerDektakXT輪廓儀：臺(tái)階高度分辨率0.01的納米級(jí)膜厚分析設(shè)備

8.PanametricsMagna-Mike8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀：適用于高溫(300℃)環(huán)境檢測(cè)

9.ZeissAxioImager.M2m金相顯微鏡：配合電解拋光實(shí)現(xiàn)微區(qū)截面厚度分析

10.CyberOpticsSE600三維光學(xué)測(cè)厚系統(tǒng)：基于莫爾條紋原理的非接觸式全場(chǎng)測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)