薄膜繞包線檢測摘要:薄膜繞包線作為電氣絕緣材料的關(guān)鍵組成部分,,其性能直接影響設(shè)備安全性與可靠性,。本文圍繞薄膜繞包線的核心檢測指標(biāo)展開分析,涵蓋厚度均勻性,、附著力強度,、耐電壓等級等關(guān)鍵參數(shù),依據(jù)ASTM,、IEC及GB/T系列標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,,系統(tǒng)闡述檢測方法及設(shè)備選型要求。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1. 薄膜厚度測量:基材厚度公差±2μm,,覆蓋層厚度≥25μm(依據(jù)IEC 60851-5)
2. 附著力測試:剝離強度≥1.5N/mm(ASTM D1000標(biāo)準(zhǔn))
3. 耐電壓試驗:工頻耐壓≥5kV/1min(GB/T 3048.8規(guī)定)
4. 熱收縮率測定:200℃/30min條件下收縮率≤3%(ISO 11501方法)
5. 表面粗糙度檢驗:Ra值≤0.8μm(GB/T 2523要求)
1. 聚酰亞胺(PI)薄膜繞包電磁線
2. 聚酯(PET)薄膜絕緣繞組線
3. 聚萘酯(PEN)復(fù)合薄膜繞包線
4. 聚四氟乙烯(PTFE)高頻繞包線
5. 云母帶復(fù)合薄膜絕緣導(dǎo)線
1. 厚度測量:采用GB/T 13541-2020《電氣用塑料薄膜試驗方法》
2. 擊穿電壓測試:依據(jù)IEC 60243-1:2013電極系統(tǒng)
3. 熱老化試驗:執(zhí)行GB/T 11026.1-2016熱重分析法
4. 機械強度檢測:參照ASTM D882-18拉伸試驗規(guī)程
5. 介質(zhì)損耗測試:按GB/T 1409-2006西林電橋法實施
1. Mitutoyo Litematic VL-50非接觸式測厚儀(分辨率0.1μm)
2. Hipotronics DC 100kV耐壓測試系統(tǒng)(精度±1%)
3. Instron 5967雙立柱拉力試驗機(量程50kN)
4. Netzsch TG 209 F3熱分析儀(溫度范圍RT~1000℃)
5. Agilent E4980A精密LCR表(頻率20Hz~2MHz)
6. Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡(500倍光學(xué)放大)
7. Elcometer 506附著力測試儀(0~25N量程)
8. Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀(表面粗糙度分析)
9. ESPEC PL-3KPH恒溫恒濕箱(溫控±0.5℃)
10. Haida HD2678A絕緣電阻測試儀(1000V/1TΩ)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析薄膜繞包線檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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