參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1. 碳偏析度測定：測量碳元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)偏差值（±0.02%-0.5%）

2. 硫印分析：顯示硫化物分布形態(tài)（分辨率≤10μm）

3. 顯微硬度差測試：維氏硬度梯度變化（HV0.1-HV5）

4. 枝晶間距測量：一次枝晶間距（50-500μm）

5. 元素面掃描分析：EDS/WDS元素分布成像（精度±0.1wt%）

檢測范圍

1. 合金結(jié)構(gòu)鋼：42CrMoA/20CrMnTi等齒輪用鋼

2. 軸承鋼：GCr15/SUJ2等高碳鉻鋼

3. 工具鋼：H13/SKD11等熱作模具鋼

4. 鑄鐵件：QT450-10/HT250等鑄造產(chǎn)品

5. 高溫合金：Inconel 718/K417等航空材料

檢測方法

1. ASTM E381-17《鋼棒材,、方坯、坯段宏觀組織檢驗》

2. ISO 4967:2013《鋼中非金屬夾雜物測定》

3. GB/T 10561-2005《鋼中非金屬夾雜物含量的測定》

4. GB/T 13298-2015《金屬顯微組織檢驗方法》

5. ASTM E1245-03(2016)《確定金屬中夾雜物含量的自動圖像分析法》

檢測設(shè)備

1. Olympus GX53金相顯微鏡：500×-1000×偏析形貌觀測

2. Wilson 402MVD顯微硬度計：10gf-1kgf載荷梯度測試

3. Thermo Scientific ARL 4460直讀光譜儀：C/S元素定量分析

4. Zeiss Axio Imager.A2m自動掃描電鏡：EDS面分布成像

5. Leica DM2700M偏光顯微鏡：硫印試樣宏觀觀察

6. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：相組成定量分析

7. Shimadzu EPMA-1720電子探針：微區(qū)成分線掃描

8. Struers LaboPol-5試樣切割機(jī)：低應(yīng)力取樣制備

9. Buehler Phoenix Beta自動磨拋機(jī)：無污染制樣處理

10. Clemex Vision PE圖像分析系統(tǒng)：枝晶間距自動測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)