光波長檢測摘要:光波長檢測是光學材料與器件性能評價的核心環(huán)節(jié),主要針對光源,、濾光片及光學鍍膜等產品的光譜特性進行定量分析,。關鍵檢測指標包括峰值波長精度,、半高寬偏差及透射率穩(wěn)定性等參數(shù),,需依據(jù)ASTM、ISO及GB/T系列標準執(zhí)行規(guī)范化測試流程,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。
1. 中心波長偏差:測量實際峰值波長與標稱值的偏移量(±0.2nm精度)
2. 光譜帶寬(FWHM):測定半高寬數(shù)值(范圍200-1600nm)
3. 透射/反射率曲線:記錄400-2500nm波段內能量分布特性
4. 波長重復性:連續(xù)10次測量同一光源的波長波動值(≤±0.05nm)
5. 溫度漂移特性:在-40℃至85℃環(huán)境測試波長偏移量(±0.1nm/℃)
1. 光學玻璃基濾光片(帶通/長通/短通型)
2. 光纖布拉格光柵傳感器(FBG)
3. LED/LD半導體發(fā)光器件
4. 光學鍍膜元件(AR/IR/Metal Coating)
5. 光譜分析用標準參考物質(SRM 2035系列)
ASTM E275-08(2017) 紫外-可見光譜儀性能驗證規(guī)程
ISO 12005:2003 激光束波長與譜寬測量方法
GB/T 13394-2011 光學分光光度計檢定規(guī)程
GB/T 26179-2010 光源顯色性評價方法
IEC 62129-1:2016 波長/頻率測量儀器校準規(guī)范
1. Agilent Cary 7000全能型分光光度計(190-3300nm全波段掃描)
2. Ocean Insight HR4000高分辨率光譜儀(0.1nm光學分辨率)
3. Yokogawa AQ6375E長波段光譜分析儀(1200-2400nm測試范圍)
4. Labsphere CDS610校準積分球(直徑610mm均勻光源系統(tǒng))
5. Newport Oriel CS260單色儀(1200g/mm全息光柵配置)
6. Fluke PM6681銣鐘頻率計數(shù)器(5×10?12頻率穩(wěn)定度)
7. Thorlabs PM100D功率計探頭(200-11000nm寬譜響應)
8. Shimadzu MPC-3100多通道光電探測器陣列
9. Keysight N7744A多端口光功率計(C+L波段同步監(jiān)測)
10. Bruker VERTEX 80v真空型傅里葉紅外光譜儀
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務,。
中析光波長檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師