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電介質(zhì)分選檢測(cè)

2025-04-02 關(guān)鍵詞:電介質(zhì)分選測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),電介質(zhì)分選項(xiàng)目報(bào)價(jià),電介質(zhì)分選測(cè)試范圍 相關(guān):
電介質(zhì)分選檢測(cè)

電介質(zhì)分選檢測(cè)摘要:電介質(zhì)分選檢測(cè)是評(píng)估絕緣材料電氣性能的核心技術(shù)手段,通過(guò)介電常數(shù),、介質(zhì)損耗,、擊穿強(qiáng)度等關(guān)鍵參數(shù)的精確測(cè)量,為電子元器件,、電力設(shè)備及復(fù)合材料提供可靠性依據(jù),。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目、方法及標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,,涵蓋聚合物薄膜,、陶瓷材料等典型電介質(zhì)的質(zhì)量控制要點(diǎn)。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 介電常數(shù)(εr):測(cè)量頻率1kHz-1MHz范圍,,溫度25±2℃條件下相對(duì)介電常數(shù)

2. 介質(zhì)損耗角正切(tanδ):在工頻50Hz及高頻1MHz下測(cè)試損耗因子

3. 擊穿電壓強(qiáng)度:AC/DC模式下測(cè)試0.1-10mm厚度樣品的擊穿場(chǎng)強(qiáng)(kV/mm)

4. 體積電阻率(ρv):施加500V直流電壓測(cè)量1012-1016Ω·cm范圍

5. 表面電阻率(ρs):依據(jù)IEC 60093標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試109-1014Ω/sq量級(jí)

檢測(cè)范圍

1. 聚合物薄膜材料:PET聚酯薄膜(厚度2-250μm)、PI聚酰亞胺薄膜(耐溫等級(jí)H級(jí))

2. 陶瓷介質(zhì)材料:氧化鋁陶瓷(Al2O3含量96%-99%),、鈦酸鋇基陶瓷電容器材料

3. 復(fù)合絕緣材料:云母紙復(fù)合材料(耐溫800℃),、玻璃纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹(shù)脂層壓板

4. 液體電介質(zhì):變壓器油(IEC 60296標(biāo)準(zhǔn))、硅油(粘度50-1000cSt)

5. 橡膠與彈性體:硅橡膠(硬度30-80 Shore A)、三元乙丙橡膠(EPDM)電纜護(hù)套料

檢測(cè)方法

1. ASTM D150-18:固體電介質(zhì)交流損耗特性及介電常數(shù)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試法

2. IEC 60250:1969:測(cè)量電氣絕緣材料在工頻,、音頻及射頻下介電性能的方法

3. GB/T 1409-2006:測(cè)量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻下介電系數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法

4. IEC 60243-1:2013:固體絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法(工頻)

5. GB/T 1695-2005:硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法

6. ASTM D257-14:絕緣材料直流電阻或電導(dǎo)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

1. Agilent 4294A精密阻抗分析儀:頻率范圍40Hz-110MHz,,支持介電譜分析

2. Hipotronics DC60KV高壓測(cè)試系統(tǒng):直流輸出電壓0-60kV,,精度±1%

3. Megger MIT525絕緣電阻測(cè)試儀:測(cè)量范圍0.01MΩ-10TΩ,,符合IEC 60167標(biāo)準(zhǔn)

4. Netzsch DEA 288E介電分析儀:溫度范圍-150℃~400℃,,頻率0.01Hz-10MHz

5. QuadTech 7600高壓LCR表:基本精度0.05%,支持四端對(duì)測(cè)量模式

6. Haefely Hipot Tettex 6100交流耐壓試驗(yàn)裝置:最大輸出電壓100kV AC

7. Keysight E4980AL精密LCR表:20Hz-2MHz頻率范圍,,0.05%基本精度

8. Tettex 2828數(shù)字式高壓電橋:分辨率0.01pF,,tanδ測(cè)量下限5×10-6

9. Chroma 19032可編程耐壓測(cè)試儀:輸出功率500VA,符合IEC 61010安全標(biāo)準(zhǔn)

10. Mitsubishi HV-100S高阻計(jì):測(cè)量范圍103-1018Ω,,配備三電極測(cè)試夾具

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng):中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析電介質(zhì)分選檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢(xún)?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)工程師

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